螢光壽命分析系統

螢光壽命分析系統是一種用於數學領域的分析儀器，於2014年1月1日啟用。

基本介紹

• 中文名：螢光壽命分析系統
• 產地：德國
• 學科領域：數學
• 啟用日期：2014年1月1日
• 所屬類別：分析儀器 > 電子光學儀器

技術指標

375nm、473nm。

主要功能

與雷射共聚焦顯微鏡相連，可用於細胞原位螢光壽命成像。