時間分辨光譜條紋相機測試系統

時間分辨光譜條紋相機測試系統

時間分辨光譜條紋相機測試系統是一種用於物理學、生物學、材料科學領域的分析儀器,於2014年11月21日啟用。

基本介紹

  • 中文名:時間分辨光譜條紋相機測試系統
  • 產地:日本
  • 學科領域:物理學、生物學、材料科學
  • 啟用日期:2014年11月21日
  • 所屬類別:分析儀器 > 光譜儀器 > 光譜成像儀
技術指標,主要功能,

技術指標

時間解析度:2 ps 光譜回響: 200-850 nm。

主要功能

用於材料的光譜性能和時間特性研究,可用來測試上轉換材料和晶體材料的螢光壽命和瞬態光譜。

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