物性測量系統是一種用於航空、航天科學技術領域的電子測量儀器，於2005年11月01日啟用。
物性測量系統是一種用於航空、航天科學技術領域的電子測量儀器，於2005年11月01日啟用。技術指標溫度：1.9K-400K，變溫速率0.01-10K/min，溫度穩定性正負百分之0.02，精度正負百分之0.5；磁場：0....
物性綜合測量系統 物性綜合測量系統是一種用於物理學領域的物理性能測試儀器，於2018年09月26日啟用。技術指標 9T無液氮超導磁體系統主機，振動樣品磁強計(VSM)測量附屬檔案，比熱(SPH)測量附屬檔案。主要功能 進行磁化強度、相變溫度及材料比熱的測試。
磁性測量系統是指對材料物理性質，如磁學、電學、熱學乃至鐵電、介電等物性進行測試的設備。PPMS PPMS綜合物性測量系統是一款對材料的各種物理性質進行基礎研究的儀器。PPMS系統的設計理念是在一個極低溫(50mK)和強磁場(±16T)平台上，集成全自動的磁學、電學、熱學和形貌，甚至鐵電和介電等各種物性測量手段。這樣的...
綜合物性測量系統是一種用於數學、物理學、化學、材料科學領域的物理性能測試儀器，於2011年01月04日啟用。技術指標 選件、帶氮夾套的大容量液氦杜瓦(68升)和液氦自循環系統。其具體技術指標為：樣品腔尺寸：淨內徑為26cm基系統磁場強度：縱向磁體:±9T，場均勻性：±0.01%，掃描速度:1-200高斯/秒磁場解析度:0...
無液氦綜合物性測量系統 無液氦綜合物性測量系統是一種用於物理學、化學、化學工程、材料科學領域的計量儀器，於2017年05月16日啟用。技術指標 主機系統，磁學測量選件，電學/熱學運輸測量選件，拓展功能選件 控溫：1.9-400K（正負1%），磁場：0-9T。主要功能 電磁多種物性測量，M-T曲線，M-H曲線，I-V曲線。
綜合物性測量系統PPMS是一種用於自然科學相關工程與技術、材料科學領域的分析儀器，於2015年3月1日啟用。技術指標 電壓：220V/380V 交流電：50Hz 磁場：-9T - 9T 溫度：1.8K - 400K 掃場速率：200Oe/s 最大真空度：小於0.1 mTorr。主要功能 磁學測量：DC磁化率； 高溫磁化率測量；AC磁化率；扭矩磁化測量 ...
物性測量系統PPMS是一種用於物理學領域的計算機及其配套設備，於2003年9月25日啟用。技術指標 材料在不同溫度和磁場下磁性、電學性質和熱學性質的測量。溫度範圍5-400K，磁場最高9T，磁性測試精度10-5emu，交流頻率1000Hz，熱導測量靈敏度： 10nJ/K @2K；測量精度：主要功能 一個PPMS系統由基本系統和各種測量和...
大型綜合物性測量系統是一種用於物理學、化學、材料科學領域的物理性能測試儀器，於2018年10月15日啟用。技術指標 主要規格，溫度1.9-400K，磁場0-9T； 磁矩測量靈敏度：直流優於10-6emu； 交流優於10-8emu，（交流頻率範圍：10 Hz – 10 KHz）， 電阻測量範圍： 四線法10-8Ω - 106Ω；二線法106Ω -...
物理特性測試系統是一種用於物理學、材料科學領域的物理性能測試儀器，於2004年11月01日啟用。技術指標 測量溫度範圍：2K-400K；磁場範圍-9T-+9T。主要功能 測量各種材料在極端條件下的物理輸運性質.提供低溫（50mK）強磁場（+-9T）測量環境，集成全自動的磁學，電學，熱學，形貌，鐵電和介電等各種物性測量手段。
材料綜合物性測量系統是一種用於物理學領域的物理性能測試儀器，於2017年10月30日啟用。技術指標 溫控系統技術參數： 溫控範圍： 1.9K - 400K 連續控制 1000K VSM 高溫爐 溫度掃描速率：0.01 - 8 K/min 溫度穩定性： ±0.2% T 10K 磁場範圍：±9T 磁場解析度： 0.02 mT to 1 T 0.2 mT to 9 T ...
完全無液氦綜合物性測量系統是一種用於生物學領域的物理性能測試儀器，於2019年3月22日啟用。技術指標 控溫範圍：1.9K-400K，溫度穩定性：±0.2% T10K，±0.02% T10K 磁場範圍：±90000 Oe，掃場速率0.1-200 Oe/s,到達滿場時間8 min。 磁場解析度:0.2 mT to 9 T 磁場穩定性:1PPM/hour 剩磁：5 ...
無液氦物性測量系統是一種用於化學領域的物理性能測試儀器，於2015年12月18日啟用。技術指標 磁場範圍：9T；溫度範圍：2-300K。降溫速度：2K/分鐘；磁場變化速度：0.2T/分鐘。主要功能 可以測量隨溫度變化的磁化曲線，隨磁場變化的磁化曲線；隨溫度變化的電阻特性；隨溫度變化的介電性質和鐵電性質。
多功能物性測量系統 多功能物性測量系統是一種用於材料科學領域的物理性能測試儀器，於2015年10月19日啟用。技術指標 mCFMS-5最高磁場：5T。主要功能 可進行材料在高低溫環境下的電性能和磁性能測試。
PPMS材料綜合物性測量系統 PPMS材料綜合物性測量系統是一種用於物理學、化學領域的物理性能測試儀器，於2014年6月30日啟用。技術指標 溫區：1.9-400K 磁場：±9T。主要功能 1.直流電阻 2.交流電阻 3.熱輸運 4.比熱 5.磁性。
無液核綜合物性測量系統 無液核綜合物性測量系統是一種用於物理學領域的物理性能測試儀器，於2014年12月05日啟用。技術指標 溫度範圍：主要功能 無需液氦等任何製冷劑的測量系統。
綜合物理性能測試系統是一種用於物理學、材料科學領域的計量儀器，於2013年3月19日啟用。技術指標 PPMS 系統是在一個嚴格控制的低溫和強磁場平台上，集成全自動的電學、磁學、熱學等各種物性測量手段。溫控範圍：1.9~400K；溫度掃描速率：0.01~8K；溫度穩定性：±0.2% T10K。磁場大小範圍：±14T；磁場解析度：...
極端條件物性測量系統 極端條件物性測量系統是一種用於物理學領域的計量儀器，於2014年09月01日啟用。技術指標 12T垂直方向磁場，VTI最低溫度1.5K，吸式制冷機插桿最低溫度50mK。主要功能 在低溫強磁環境下對樣品的電輸運性質進行測量。
綜合物性測量系統配件 綜合物性測量系統配件是一種用於物理學、材料科學領域的物理性能測試儀器，於2016年5月10日啟用。技術指標 溫度1.9K-1000K，磁場-9T-9T，升溫速率12k/min，降溫速率10k/min。主要功能 測試材料的磁、電、熱等性能。
流體熱物性測量系統是獲取流體飽和蒸汽壓、PVTx、臨界參數、氣體音速、表面張力、導熱係數及粘度等物性數據必不可少的實驗設備，特別是在對實驗數據的精確度要求較高的場合中，測量系統性能的好壞直接影響實驗數據的可靠性和準確度。流體的熱物性實驗數據在能源、動力、製冷和化工等領域的科學研究和工程設計中都是不可...
超導量子器件低溫綜合物性測量系統 超導量子器件低溫綜合物性測量系統是一種用於材料科學領域的物理性能測試儀器，於2018年6月22日啟用。技術指標 驗收時最低溫能到10mK，20mK時製冷功率＞20uW。主要功能 微波頻段微弱信號檢測。
無液氦綜合物性系統測量是一種用於物理學、材料科學領域的物理性能測試儀器，於2015年4月17日啟用。技術指標 溫度控制範圍:1.8-400 K；溫控精確度:±1%（從零場—9T）；溫度掃描速度:最快達到12 K/min.溫度穩定性:±0.2% T 10 K；±0.02% T 10 K ,縱向磁體: ±9 T；場均勻性:±0.01% ；掃描...
閉循環多功能低溫物性測量系統是一種用於物理學、材料科學領域的物理性能測試儀器，於2019年10月31日啟用。技術指標 其主要參數為：溫度範圍：3.2K-350K （無負載時zuidi可達2.7K）· 超低震動：峰-峰值5nm（RMS1nm） · 溫度穩定性：最大波動10mK· 降溫時間：2小時。完全閉循環的製冷系統只需要極少量的氦氣...
極低溫強磁場綜合物性測量系統 極低溫強磁場綜合物性測量系統是一種用於物理學領域的物理性能測試儀器，於2014年03月21日啟用。技術指標 16特斯拉強磁場、50mK極低溫、液氦自循環。主要功能 強磁場極低溫物性測量。
PPMS測量系統 PPMS測量系統是一種用於物理學、材料科學領域的物理性能測試儀器，於2009年12月24日啟用。技術指標 磁場：0~9 T；壓力：0~2 Gpa。主要功能 多功能物理性質測量（電阻\磁性質\熱電勢等）。
高溫高壓低滲透率岩石物性測試系統是一種用於地球科學、能源科學技術、核科學技術、環境科學技術及資源科學技術領域的物理性能測試儀器，於2014年12月10日啟用。技術指標 1. 岩石突破壓測試： （1）試樣尺寸：25.4×10mm；（2）溫度：室溫～60℃，精度±0.1℃；（3）圍壓：0～50MPa，精度±0.5%FS；（4）流體...
物性測量系統方法通則第1部分：直流磁性測試 《物性測量系統方法通則第1部分：直流磁性測試》是2020年12月1日實施的一項行業標準。備案信息 備案號：78247-2020 備案月報： 2020年第11號(總第247號)
低溫物性測試系統 低溫物性測試系統是一種用於物理學、材料科學領域的物理性能測試儀器，於2003年04月03日啟用。技術指標 磁場：14T；溫度 2K-400K；He3下，500mk。主要功能 提供變溫。磁場條件的環境，測量物性。
可對果蔬、穀物、糧油製品、肉製品等農產品或食品的硬度、嫩度、脆性、粘性、彈性、咀嚼性、拉伸強度、抗壓強度等物性指標進行測量。主要特點有：1.最大檢測力:2500牛2.檢測精度：優於0.015%3.檢測行程：30厘米4.檢測速度：0.1—500毫米/分鐘可調5.32厘米長下降距離精度：2.5微米6.速度精度：優於0.1%。主...
薄膜表面微納米測量與多功能物性測試系統是一種用於材料科學領域的科學儀器，於2012年10月19日啟用。技術指標 運行供電電壓AC220~240V，允許偏差10%。主要功能 掃描隧道顯微鏡(STM) 接觸模式AFM/輕敲模式AFM 相移成像模式( Phase Imaging) ( AFM輕敲模式中實現) 橫向力(摩擦力)顯微鏡(LFM) ( AFM接觸模式中實現) ...
PPMS即 Physical Property Measurement System 綜合物性測量系統。概念 定義 PPMS——Physical Property Measurement System 是美國Quantum Design公司開發的一款對材料的各種物理性質進行基礎研究的儀器。PPMS系統的設計理念是在一個完美控制的極低溫(50mK)和強磁場(±16T)平台上，集成全自動的磁學、電學、熱學和形貌，甚至...
