綜合物理性能測試系統

綜合物理性能測試系統是一種用於物理學、材料科學領域的計量儀器，於2013年3月19日啟用。

基本介紹

• 中文名：綜合物理性能測試系統
• 產地：美國
• 學科領域：物理學、材料科學
• 啟用日期：2013年3月19日
• 所屬類別：計量儀器 > 電子學計量儀器

技術指標

PPMS 系統是在一個嚴格控制的低溫和強磁場平台上，集成全自動的電學、磁學、熱學等各種物性測量手段。溫控範圍：1.9~400K；溫度掃描速率：0.01~8K；溫度穩定性：±0.2% T<10K。 ±0.02% T>10K。磁場大小範圍：±14T；磁場解析度：0.1 Oe；磁場穩定性：1PPM/hour；變場速率：最大127 Oe/s.PPMS 已經設計好了全自動的測量軟體、具有標準測量功能以及硬體，主要選件有：ACMS、VSM、交流電輸運選件(AC Transport)、直流輸運選件(DC Resistivity)、樣品水平旋轉桿選件(Horizontal Sample Rotator)、熱輸運選件(Thermal Transport Option)、比熱選件(Heat Capacity Option)、多功能樣品桿(Multi Function Probe)等。

主要功能

主要功能有：交流磁化率、直流磁化強度信號、磁滯回線、電阻率、伏安特性、霍爾係數、臨界電流、磁扭矩、熱導率、電阻率、塞貝克係數、品質因數等物理性能的測量。