薄膜表面微納米測量與多功能物性測試系統是一種用於材料科學領域的科學儀器，於2012年10月19日啟用。
基本介紹
- 中文名：薄膜表面微納米測量與多功能物性測試系統
- 產地：中國
- 學科領域：材料科學
- 啟用日期：2012年10月19日
技術指標,主要功能,
技術指標
運行供電電壓AC220~240V，允許偏差10%。
主要功能
掃描隧道顯微鏡(STM) 接觸模式AFM/輕敲模式AFM 相移成像模式( Phase Imaging) ( AFM輕敲模式中實現) 橫向力(摩擦力)顯微鏡(LFM) ( AFM接觸模式中實現) 磁力顯微鏡(MFM) /靜電力顯微鏡(EFM) ( AFM抬起模式中實現)(選配功能) 其中導電原子力顯微鏡(C-AFM) (選配功能) 納米加工和操縱，包括圖形刻蝕模式和矢量掃描模式( 選配功能) 掃描聲學顯微鏡(SPAM)1壓電力顯微鏡(PFM)1力調製成像模式(FM)(均為起 配功能) 液相原子力顯微鏡(選配功能) 加熱台系統(選配功能)。
