《材料科學中的掃描隧道顯微分析》是1993年科學出版社出版的圖書，作者是方鴻生。
基本介紹
- 中文名：材料科學中的掃描隧道顯微分析
- 作者：方鴻生
- 出版社：科學出版社
- 出版時間：1993年11月
- ISBN：7030040635
內容簡介,圖書目錄,
內容簡介
掃描隧道顯微鏡（Scanning Tunneling Microscope，簡稱STM）是本世紀80年代初研製成功的一種新型表面測試分析儀器，發展極快，是當前學術界的一個熱點，已在物理、化學、材料科學、生命科學等領域引起震動．預期STM將引起材料結構分析技術的新飛躍，它的日益廣泛套用將使相關領域獲得許多新發現。
本書從材料科學實際套用出發，簡要介紹了STM的工作原理，論述了掃描隧道顯微鏡在該領域的套用及最新成就，闡述了用STM觀察材料組織結構的相關實驗技術、原理與方法，包括樣品製備方法、組織顯示方法、表面防護、STM工作參數選擇、針尖製備等，論述了作者用STM研究黑色及有色合金精細組織方面的研究成果，並向讀者提供了大量原子結構圖象．本書圖文並茂，圖象解釋簡捷明了。
本書可供從事金屬材料、非金屬材料及其它新型材料等方面研究的科技工作人員及高等院校有關專業師生參考。
圖書目錄
序言
目錄
第一章 掃描隧道顯微分析技術概述
第二章 材料原子結構的掃描隧道顯微分析
第三章 材料組織結構的原子尺度分析研究
第四章 掃描隧道顯微分析實驗技術
第五章 作者在掃描隧道顯微鏡套用方面的研究工作
第六章 掃描隧道顯微鏡套用前景展望
