掃描隧道顯微術

掃描隧道顯微術

掃描隧道顯微術是2011年公布的材料科學技術名詞。

中文名稱掃描隧道顯微術
英文名稱scanning tunnelling microscopy,STM
定  義利用量子隧道效應的表面研究技術。能實時、原位觀察樣品最表面層的局域結構信息,能達到原子級的高解析度。
套用學科材料科學技術(一級學科),材料科學技術基礎(二級學科),材料科學基礎(三級學科),材料的表征與測試(四級學科)

基本介紹

  • 中文名:掃描隧道顯微術
  • 外文名:scanning tunnelling microscopy,STM
  • 所屬學科:材料科學技術 
  • 公布年度:2011年
定義,出處,

定義

利用量子隧道效應的表面研究技術。能實時、原位觀察樣品最表面層的局域結構信息,能達到原子級的高解析度。

出處

《材料科學技術名詞》。

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