掃描隧道顯微術是2011年公布的材料科學技術名詞。
中文名稱 | 掃描隧道顯微術 |
英文名稱 | scanning tunnelling microscopy,STM |
定 義 | 利用量子隧道效應的表面研究技術。能實時、原位觀察樣品最表面層的局域結構信息,能達到原子級的高解析度。 |
套用學科 | 材料科學技術(一級學科),材料科學技術基礎(二級學科),材料科學基礎(三級學科),材料的表征與測試(四級學科) |
基本介紹
- 中文名:掃描隧道顯微術
- 外文名:scanning tunnelling microscopy,STM
- 所屬學科:材料科學技術
- 公布年度:2011年