數字電子技術基礎:系統方法

數字電子技術基礎:系統方法

《數字電子技術基礎:系統方法》是2014年06月20日出版的書籍,作者是Thomas L. Floyd。

基本介紹

  • 書名:數字電子技術基礎:系統方法
  • 作者:Thomas L. Floyd
  • 出版社機械工業出版社
  • 出版時間:2014年06月20日
  • 定價:99.0
  • 開本:16 開
  • 裝幀:平裝
  • ISBN:9787111464846
  • 書號:46484
  • 印次: 1-1
  • 字數:420千字
  • 所屬叢書:國外電子與電氣工程技術叢書
內容簡介,目錄信息,

內容簡介

本書是世界著名優秀教材,結合數字電子技術的發展趨勢,從數字電子技術系統性的角度,對數位技術和數字系統內容進行重新組織,系統闡述數字電子技術的基礎知識。主要內容包括:數字電子技術的基本概念、組合邏輯、鎖存器、觸發器、定時器、計數器、移位暫存器、數據傳輸、信號處理等

目錄信息

出版者的話
譯者序
前言
第1章 數字系統簡介1
1.1 數字和模擬信號及系統1
1.2 二進制數字、邏輯電平和數字波形5
1.3 邏輯運算9
1.4 組合和時序邏輯功能11
1.5 可程式邏輯14
1.6 固定功能邏輯器件18
1.7 數字系統舉例20
1.8 測量儀器22
小結28
關鍵術語28
是非測試題29
自測題29
習題30
各節測試題答案31
相關問題答案32
是非測試題答案32
自測題答案32
第2章 數制、運算和編碼33
2.1 十進制33
2.2 二進制34
2.3 十進制與二進制間的轉換36
2.4 二進制算術運算39
2.5 二進制數的反碼和補碼41
2.6 帶符號數42
2.7 帶符號數的算術運算47
2.8 十六進制52
2.9 八進制56
2.10 二十進制碼58
2.11 數字編碼61
2.12 誤碼檢測66
小結70
關鍵術語70
是非測試題71
自測題71
習題72
各節測試題答案75
相關問題答案76
是非測試題答案77
自測題答案77
第3章 邏輯門和組合門78
3.1 布爾代數簡介78
3.2 反相器83
3.3 與門85
3.4 或門89
3.5 與非門92
3.6 或非門94
3.8 門的性能特性及參數99
3.9 可程式邏輯102
3.10 故障排除108
小結111
關鍵術語112
固定功能邏輯器件113
是非測試題113
自測題113
習題114
拓展題117
Muitisim故障排除練習117
各節測試題答案117
相關問題答案118
是非測試題答案119
自測題答案119
第4章 組合邏輯120
4.1 基本組合邏輯電路120
4.2 布爾表達式和真值表123
4.3 摩根定理128
4.4 與非門和或非門的通用特性129
4.5 脈衝波形運算130
4.6 用VHDL和Verilog描述組合邏輯132
4.7 儲液罐系統137
4.8 故障排除140
小結144
關鍵術語145
是非測試題145
自測題145
習題146
拓展題150
Muitisim故障排除練習150
各節測試題答案150
相關問題答案151
是非測試題答案152
自測題答案152
第5章 組合邏輯功能模組153
5.1 藥片瓶裝系統153
5.2 半加器與全加器157
5.4 串列進位與超前進位加法器163
5.5 比較器165
5.6 解碼器167
5.7 編碼器173
5.8 碼轉換器176
5.9 復用器(數據選擇器)177
5.10 解復用器183
5.11 奇偶發生器/校驗器184
5.12 邏輯功能模組的VHDL和Verilog描述186
5.13 故障排除189
小結191
關鍵術語191
固定功能邏輯器件192
是非測試題192
自測題192
習題193
拓展題197
Muitisim故障排除練習197
各節測試題答案197
相關問題答案198
是非測試題答案199
自測題答案199
第6章 鎖存器、觸發器與定時器200
6.2 鎖存器203
6.3 觸發器207
6.4 觸發器的工作特性215
6.5 定時器217
6.6 雙穩態邏輯的VHDL和Verilog描述221
6.7 交通信號控制系統的VHDL和Verilog描述223
6.8 故障排除229
小結235
關鍵術語236
是非測試題236
自測題236
習題237
拓展題241
Muitisim故障排除練習241
各節測試題答案241
相關問題答案242
是非測試題答案242
自測題答案242
第7章 移位暫存器243
7.1 安全系統243
7.2 基本移位暫存器的工作原理245
7.3 移位暫存器的類型246
7.4 雙向移位暫存器252
7.5 移位暫存器型計數器253
7.6 安全系統的VHDL和Verilog描述257
7.7 故障排除260
小結264
關鍵術語264
固定功能邏輯器件264
是非測試題264
自測題265
習題265
拓展題268
Multisim故障排除練習268
各節測試題答案268
相關問題答案269
是非測試題答案269
自測題答案269
第8章 計數器270
8.1 計時系統270
8.5 加/減同步計數器282
8.6 級聯計數器285
8.7 計數器解碼288
8.8 計數器的VHDL和Verilog描述289
8.9 故障排除291
小結294
關鍵術語295
固定功能邏輯器件295
是非測試題295
自測題295
習題296
拓展題299
Multisim故障排除練習299
各節測試題答案299
相關問題答案300
是非測試題答案300
自測題答案300
第9章 可程式邏輯301
9.1 簡單可程式邏輯器件301
9.3 宏單元模式310
9.5 可程式邏輯軟體316
9.6 邊界掃描邏輯323
9.7 故障排除329
小結333
關鍵術語333
是非測試題334
自測題334
習題335
各節測試題答案338
相關問題答案338
是非測試題答案338
自測題答案338
第10章 存儲器339
10.1 存儲系統層次結構339
10.2 半導體存儲器基礎342
10.4 唯讀存儲器355
10.5 可程式ROM358
10.6 閃速存儲器360
10.7 存儲器擴展363
10.8 特殊類型的存儲器367
10.9 磁和光存儲器371
10.10 故障排除375
小結377
關鍵術語378
是非測試題378
自測題378
習題379
各節測試題答案381
相關問題答案382
是非測試題答案382
自測題答案382
第11章 數據傳輸383
11.1 數據傳輸媒質383
11.2 數據傳輸方式與傳輸模式386
11.3 數位訊號調製模擬信號390
11.4 模擬信號調製數位訊號392
11.5 復用與解復用397
11.6 傳輸媒質對數據質量的影響401
小結404
關鍵術語405
是非測試題406
自測題406
習題407
各節測試題答案408
相關問題答案409
是非測試題答案409
自測題答案409
第12章 信號轉換與處理410
12.1 太陽方位跟蹤系統410
12.2 模擬信號轉換成數位訊號414
12.3 模數轉換方法418
12.4 數模轉換方法425
12.5 數位訊號處理431
小結437
關鍵術語437
是非測試題437
自測題437
習題438
各節測試題答案441
相關問題答案441
是非測試題答案441
自測題答案441
第13章 數據處理與控制442
13.1 基本計算機系統442
13.2 實際計算機系統的考慮因素445
13.3 CPU的基本操作449
13.4 CPU的定址模式454
13.5 CPU的特定操作458
13.6 作業系統和硬體463
13.7 編程465
13.8 微控制器和嵌入式系統469
小結474
關鍵術語475
是非測試題475
自測題476
習題476
各節測試題答案478
相關問題答案479
是非測試題答案479
自測題答案479
第14章 匯流排、網路和接口480
14.1 匯流排基礎480
14.2 匯流排接口484
14.3 並行匯流排487
14.4 通用串列匯流排492
14.5 其他串列匯流排495
14.7 網路協定技術503
小結507
關鍵術語508
是非測試題508
自測題509
習題510
各節測試題答案512
相關問題答案513
是非測試題答案513
自測題答案513
術語表514
附錄A 轉換
附錄B 安全系統組件的程式
奇數編號習題答案

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