探針(信號傳輸探測工具)

探針卡是一種測試接口，主要對裸芯進行測試，通過連線測試機和晶片，通過傳輸信號對晶片參數進行測試.。

基本介紹

• 中文名：探針卡
• 外文名：Probe Card
• 屬性：測試接口
• 對應：裸芯

為什麼要用探針卡?

近年來半導體製程技術突飛猛進，超前摩爾定律預估法則好幾年，現階段已向32奈米以下挺進。目前產品講求輕薄短小，IC體積越來越小、功能越來越強、腳數越來越多，為了降低晶片封裝所占的面積與改善IC效能，現階段覆晶(Flip Chip)方式封裝普遍被套用於繪圖晶片、晶片組、存儲器及CPU等。上述高階封裝方式單價高昂，如果能在封裝前進行晶片測試，發現有不良品存在晶圓當中，即進行標記，直到後段封裝製程前將這些標記的不良品捨棄，可省下不必要的封裝成本。

探針卡主要目的:

是將探針卡上的探針直接與晶片上的焊墊或凸塊直接接觸，引出晶片訊號，再配合周邊測試儀器與軟體控制達到自動化量測的目的。探針卡套用在IC尚未封裝前，針對裸晶系以探針做功能測試，篩選出不良品、再進行之後的封裝工程。因此，探針卡是IC製造中對製造成本影響相當大的重要製程之一。