掃描隧道原子力顯微鏡系統是一種用於物理學、材料科學領域的計量儀器,於2011年7月6日啟用。
基本介紹
- 中文名:掃描隧道原子力顯微鏡系統
- 產地:德國
- 學科領域:物理學、材料科學
- 啟用日期:2011年7月6日
- 所屬類別:計量儀器 > 長度計量儀器 > 原子力顯微鏡
掃描隧道原子力顯微鏡系統是一種用於物理學、材料科學領域的計量儀器,於2011年7月6日啟用。
掃描隧道原子力顯微鏡系統是一種用於物理學、材料科學領域的計量儀器,於2011年7月6日啟用。技術指標溫度範圍30-400K,範圍1500nmx1500nm,漂移≤0.2nm/s。1主要功能原子分辨的變溫STM和AFM。1...
掃描隧道顯微鏡 (Scanning Tunneling Microscope, 縮寫為STM) 是一種掃描探針顯微術工具,掃描隧道顯微鏡可以讓科學家觀察和定位單個原子,它具有比它的同類原子力顯微鏡更加高的解析度。此外,掃描隧道顯微鏡在低溫下(4K)可以利用探針尖端...
當前在科學研究和工業界廣泛使用的掃描力顯微鏡,其基礎就是原子力顯微鏡。缺點 和掃描電子顯微鏡(SEM)相比,AFM的缺點在於成像範圍太小,速度慢,受探頭的影響太大。儀器結構 在原子力顯微鏡(Atomic Force Microscope,AFM)的系統中,可...
隧道電流型原子力顯微鏡tunneling type atomic force microscope一種利用隧道電流作為檢測方式的原子力顯微鏡。定義 其工作原理是將一個對微弱力極為敏感的微懸臂(can- t ilever)的一端固定,而另一端接上一微小針尖;在掃描時,針 尖尖...
實驗方面,基於掃描探針顯微鏡,通過結合電流模式成像和壓電模式成像,建立了可以表征鐵電隧道結微區輸運、極化分布和局域焦爾熱效應的原位同步分析方法。結合理論分析和實驗分析結果,揭示了鐵電隧道結電導在納米尺度上的空間非均勻分布於厚度...
掃描探針顯微鏡(Scanning Probe Microscope,SPM)是掃描隧道顯微鏡及在掃描隧道顯微鏡的基礎上發展起來的各種新型探針顯微鏡(原子力顯微鏡,靜電力顯微鏡,磁力顯微鏡,掃描離子電導顯微鏡,掃描電化學顯微鏡等)的統稱,是國際上近年發展起來的...
這項研究利用原子力顯微鏡控制檢測的空間位置,將超快掃描隧道顯微鏡對高頻器件的標定由金屬和重摻雜半導體表面拓展到任意器件表面,為高頻微型器件的設計和誤差分析提供依據。進而對降低器件加工的環境控制成本、節約能源等具有重要意義和實用...
材料科學領域的分析儀器,於2015年8月20日啟用。技術指標 1.橫向、縱向分開率都優於1A 2.系統隔振頻率低於1H。主要功能 原子力顯微鏡(Tapping模式);磁力顯微;局域彈性性能測量(力調製模式);STM(掃描隧道顯微鏡)等領域。
原子力顯微鏡對導體和絕緣體樣品都適用,且其分辨力達到0.01nm(0.1A),可以測出原子間的微作用力,實現原子級表面觀測。根據光隧道效應原理,利用光纖探測頭、壓電陶瓷、光電倍增管、掃描控制跟蹤系統和微機,可以構成光隧道顯微鏡。它...
第六節 低壓電子顯微鏡 第七節 環境掃描電子顯微鏡 第三章 新型的電子顯微鏡 第一節 掃描探針顯微鏡簡介 第二節 掃描隧道顯微鏡 第三節 原子力顯微鏡 第四節 雷射掃描共聚焦顯微鏡 第四章 分析電子顯微鏡、X射線能量色散譜分析系統及其...
掃描探針顯微鏡自20世紀80年代初出現以來,在短短20年的時間裡,一直是各國科學家的研究熱點,並迅速發展成為一個含20多個品種的龐大顯微鏡家族。本書共分七章,依次向讀者展現:顯微鏡的發展歷史;系統介紹掃描隧道顯微鏡、原子力顯微鏡和...
原子力顯微鏡(atomic force microscope, AFM)是一種具有原子解析度的表面形貌、電磁性能分析的重要儀器。1981年,STM(scanning tunneling microscopy, 掃描隧道顯微鏡)由IBM-Zurich 的Binnig and Rohrer 發明。1982年,Binnig首次觀察到原子...
California大學S.Alexander等人利用光槓桿實現的原子力顯微鏡首次獲得了原子級解析度的表面圖像。日本:S.Yoshida主持的Yoshida納米機械項目主要進行以下二個方面的研究:⑴.利用改制的掃描隧道顯微鏡進行微形貌測量,已成功的套用於石墨表面和...
本書介紹的主要內容有:掃描隧道顯微鏡和原子力顯微鏡;分子操縱與組裝技術;納米材料學;納米電子學;納米生物學;微細加工技術、微機械和微型機電系統。涉及了微/納米技術的各分支領域,涵蓋了物理、化學、生物、材料、機電、航空航天、...
用這原理的測量方法有:掃描隧道顯微鏡(STM)、原子力顯微鏡(AFM)等。加工技術 納米級加工的含意是達到納米級精度的加工技術。由於原子間的距離為0.1—0.3nm,納米加工的實質就是要切斷原子間的結合,實現原子或分子的去除,切斷原子...
10.4.2掃描差分干涉光學探針測量方法 10.5掃描隧道顯微鏡 10.5.1掃描隧道顯微鏡的基本原理與系統結構 10.5.2掃描隧道顯微鏡的功能 10.5.3掃描隧道顯微鏡設計的主要考慮因素 10.5.4掃描隧道顯微鏡的新發展與套用 10.6原子力顯微鏡 1...
1利用掃描隧道顯微鏡和原子力顯微鏡的納米加工技術 2化學合成方法 化學合成方法是製備納米尺度電子學器件的另一種途徑——用化學過程“自下而上”地把微觀體系的物質單元組裝成納米器件。由於用納米探針進行機械合成很難同時組裝數目巨大的...
6.1 掃描隧道顯微鏡 6.1.1 掃描隧道顯微鏡的工作原理 6.1.2 掃描隧道顯微鏡分析的特點及套用 6.2 原子力顯微鏡 6.2.1 原子力顯微鏡的工作原理 6.2.2 原子力顯微鏡的套用I 習題 第7章 光電子能譜分析 7.1 X射線光電子能譜...
10.1 掃描隧道顯微鏡 10.1.1 隧道效應 10.1.2 掃描隧道顯微鏡的工作原理 10.1.3 掃描隧道顯微鏡的結構 10.1.4 掃描隧道顯微鏡的工作模式 10.1.5 掃描隧道顯微鏡的特點 10.1.6 掃描隧道顯微鏡的套用舉例 10.2 原子力顯微鏡 1...
12.4 電子光學系統 12.5 主要附屬檔案 12.6 透射電鏡的電子衍射 12.7 透射電鏡的圖像襯度 12.8 透射電鏡樣品的製備 12.9 納米孿晶銅的TEM表征 13 探針電子顯微鏡分析技術 13.1 原子力顯微鏡 13.2 掃描隧道顯微鏡(STM)13.3 場...
形貌分析技術包括掃描電子顯微鏡SEM、掃描透射電子顯微鏡STEM、掃描隧道顯微鏡STM及原子力顯微鏡AFM。成分分析技術主要包括特徵電子能譜(俄歇電子能譜AES和X射線光電子能譜XPS)、特徵X射線能譜(電子探針EDS)、螢光X射線能譜XRFS及光譜分析...
因此,一些小組正在利用微型掃描隧道顯微鏡和原子力顯微鏡進行製造和試驗,他們認為利用這些微機電系統器件可使納米結構的機械操縱更有效。然而,這種微型掃描隧道顯微鏡和微型原子力顯微鏡還沒有套用到實際的納米組裝中。那將是向前跨出的一大...
22.1掃描隧道顯微鏡(283)22.2原子力顯微鏡(290)思考題(296) 參考文獻(296) 第23章雷射掃描共聚焦顯微鏡(297) 23.1雷射掃描共聚焦顯微鏡的原理(297)23.2螢光探針的選擇和螢光樣品的製備(299) 23.3雷射共聚焦顯微鏡套用...
第一節 掃描隧道顯微鏡 第二節 原子力顯微鏡 第九章 細胞與亞細胞結構的分離 第一節 從動物組織游離細胞 第二節 細胞器的游離 第三節 細胞與細胞器的分離 第十章 細胞培養技術 第一節 發展概況 第二節 體外...
9.3.2 掃描聲學顯微鏡 (482)9.3.3 掃描電子聲學顯微鏡 (483)9.4 掃描探針顯微鏡 (484)9.4.1 掃描隧道顯微鏡 (485)9.4.2 原子力顯微鏡 (494)9.4.3 掃描近場光學顯微鏡 (498)9.4.4 掃描彈道電子發射顯微鏡 (...
在三維結構納米成像中,重點介紹了電子顯微鏡和X射線顯微鏡,對三維結構納米成像進行了較為系統的分析。在形貌納米成像方面,論及掃描隧道顯微鏡、原子力顯微鏡、近場光學顯微鏡和掃描電子顯微鏡等。在螢光納米成像中,重點討論了突破衍射極限的...
5.1顯微鏡和其它器件 。原子力顯微鏡 。掃描隧道顯微鏡 。掃描樣品顯微鏡 。掃描隧道顯微鏡 。掃描樣品顯微鏡 技術介紹 1.納米技術分支 。綠色納米技術—利用納米技術增加產生負面作用的環境承受力。。納米工程—納米範圍內的實際工程。。
《材料分析技術》一書著重於工程材料分析中的各種常用現代儀器的原理和套用。《材料分析技術》共十一章,分別是接觸角在表面分析中的套用、X射線光電子能譜和俄歇電子能譜、掃描隧道顯微鏡和原子力顯微鏡、X射線衍射、透射電子顯微鏡、掃描...