隧道電流型原子力顯微鏡tunneling type atomic force microscope一種利用隧道電流作為檢測方式的原子力顯微鏡。
基本介紹
- 中文名:隧道電流型原子力顯微鏡
- 外文名:tunneling type atomic force microscope
隧道電流型原子力顯微鏡tunneling type atomic force microscope一種利用隧道電流作為檢測方式的原子力顯微鏡。
隧道電流型原子力顯微鏡tunneling type atomic force microscope一種利用隧道電流作為檢測方式的原子力顯微鏡。定義其工作原理是將一個對微弱力極為敏感的微懸臂(can- t ilever)的...
原子力顯微鏡是在1986年由掃描隧道顯微鏡(ScanningTunnelingMicroscope)的發明者之一的葛賓尼(GerdBinnig)博士在 美國史丹福大學 與C.FQuate和C.Gerber等人研製成功的。它主要由帶針尖的微懸臂、微懸臂運動檢測裝置、監控其運動的反饋迴路、使...
原子力顯微鏡(atomic force microscope, AFM)是一種具有原子解析度的表面形貌、電磁性能分析的重要儀器。1981年,STM(scanning tunneling microscopy, 掃描隧道顯微鏡)由IBM-Zurich 的Binnig and Rohrer 發明。1982年,Binnig首次觀察到原子...
《基於原子力顯微鏡的鐵電隧道結局域熱效應研究》是依託電子科技大學,由曾慧中擔任醒目負責人的青年科學基金項目。項目摘要 鐵電隧道結是利用超薄鐵電膜做為勢壘層的一種隧道結,具有諸多優異的存儲特性。但是,隧道結電流對超薄勢壘層存在...
掃描隧道原子力顯微鏡系統 掃描隧道原子力顯微鏡系統是一種用於物理學、材料科學領域的計量儀器,於2011年7月6日啟用。技術指標 溫度範圍30-400K,範圍1500nmx1500nm,漂移≤0.2nm/s。主要功能 原子分辨的變溫STM和AFM。
掃描隧道顯微鏡 (Scanning Tunneling Microscope, 縮寫為STM) 是一種掃描探針顯微術工具,掃描隧道顯微鏡可以讓科學家觀察和定位單個原子,它具有比它的同類原子力顯微鏡更加高的解析度。此外,掃描隧道顯微鏡在低溫下(4K)可以利用探針尖端...