掃描控制系統

掃描控制系統是一種用於工程與技術科學基礎學科領域的電子測量儀器，於2013年03月19日啟用。

基本介紹

• 中文名：掃描控制系統
• 產地：中國
• 學科領域：工程與技術科學基礎學科
• 啟用日期：2013年03月19日
• 所屬類別：電子測量儀器 > 通用電子測量儀器

技術指標

掃描最小步距5MM,掃描行程2.2m。（1）形狀：環形；（2）直徑：約2.6m；（3）基陣架聲散射強度：≤-20dB；（4）聲強探頭固定支架在圓環基陣架上固定位置的相對偏差：≤1mm。

主要功能

本系統包括基陣架、掃描控制系統和掃描控制計算機，用於對指定艙段試驗模型進行環形掃描和直線掃描，完成對艙段試驗模型的柱面和平面的聲強測量，為相關的科研任務提供服務。