自動掃描平台控制系統

自動掃描平台控制系統

自動掃描平台控制系統是一種用於物理學、化學領域的物理性能測試儀器,於2002年8月1日啟用。

基本介紹

  • 中文名:自動掃描平台控制系統
  • 產地:英國
  • 學科領域:物理學、化學
  • 啟用日期:2002年8月1日
  • 所屬類別:物理性能測試儀器
技術指標,主要功能,

技術指標

步進:0.01X;解析度:1um;高重複定位精度:0.5um。

主要功能

利用XY自動移位機械裝置聯用拉曼光譜儀,再引入Stage-control軟體,使用計算機高精度控制XY二維平台來實現逐點掃描,可以在樣品研究目標附近區域逐點採集拉曼光譜,實現 Mapping成像技術,這樣能夠更加直觀地分析某一特徵光學模的峰強在所測區域內的分布情況。

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