基本介紹
- 中文名:掃描探針顯微鏡
- 外文名:Scanning Probe Microscope
- 縮寫:SPM
- 套用領域:納米科學,納米材料,表面科學
掃描探針顯微鏡(Scanning Probe Microscope,SPM)是掃描隧道顯微鏡及在掃描隧道顯微鏡的基礎上發展起來的各種新型探針顯微鏡(原子力顯微鏡,靜電力顯微鏡,磁力顯微鏡,掃描...
《掃描探針顯微技術理論與套用》是2007年化學工業出版社出版的圖書,作者是彭昌盛、谷慶寶。...
幾種表面化學物理現象的掃描探針顯微鏡研究論文作者蘇明著導師白春禮院士指導...... 1. 幾種表面化學物理現象的掃描探針顯微鏡研究 .國家圖書館.2014-06-23[引用日期...
《掃描探針顯微術套用進展》是2007年化學工業出版社出版的圖書,作者是朱傳鳳。...... 從掃描探針顯微鏡(SPM)的原理、操作使用及相關功能套用,到主要配件掃描器的校正...
AFM全稱Atomic Force Microscope,即原子力顯微鏡,它是繼掃描隧道顯微鏡(Scanning Tunneling Microscope)之後發明的一種具有原子級高分辨的新型儀器,可以在大氣和液體環境...
開爾文探針力顯微鏡(Kelvin probe force microscope、KPFM)是一種原子力顯微鏡,於1991年問世。開爾文探針力顯微鏡利用微懸臂感受和放大懸臂上尖細探針與受測樣品原子...
光子掃描隧道顯微鏡(PSTM)是電子掃描隧道顯微鏡的光學模擬,它對樣品的光學特性特別敏感,且大大突破了傳統光學顯微鏡的衍射極限的限制,是掃描探針顯微鏡家族中新出現的...
過去的幾個世紀,顯微鏡從傳統的光學顯微鏡發展到第二代電子顯微鏡和第三代掃描探針顯微鏡。醫學顯微鏡分類 編輯 根據顯微原理分為光學顯微鏡和電子顯微鏡 [1] 。...
靜電力顯微鏡(英文名:Electrostatic Force Microscopy, 簡稱EFM)是一種利用測量探針與樣品的靜電相互作用,來表征樣品表面靜電勢能,電荷分布以及電荷輸運的掃描探針顯微鏡...
壓電力顯微鏡(PFM)即是在AFM基礎上發展起來利用原子力顯微鏡導電探針檢測樣品的在外加激勵電壓下的電致形變數的顯微鏡。...
其成像原理與原子力顯微鏡(AtomicForceMicroscopy,AFM)相同,依靠檢測磁性針尖與樣品 雜散磁場之間的相互作用力生成磁力梯度分布圖。磁探針的針尖磁特性、掃描高度和樣品...
原子力顯微鏡接觸模式 從概念上來理解,接觸模式是AFM最直接的成像模式。AFM 在整個掃描成像過程之中,探針針尖始終與樣品表面保持緊密的接觸,而相互作用力是排斥力。...
《電子顯微學報》 由中國物理學會主辦,創刊於1982年。主要刊登電子顯微學和其他新興顯微學透射電子顯微鏡、掃描電子顯微鏡、微束分析儀器、掃描探針顯微鏡(含掃描隧道...
內容包括X射線衍射技術、電子光學微觀分析技術、材料表面分析技術、掃描探針顯微鏡技術、材料熱分析技術,紅外光譜與拉曼光技術及色譜及色質在線上技術等。...
Dimension 3100原子力顯微鏡 傅立葉變換紅外光譜儀 24″平面干涉儀 表面探針式探針掃描台階儀 電感耦合電漿原子發射光譜(ICP-AES) 固態核磁共振儀 xps光電子...