微電子器件(第3版)

微電子器件(第3版)

《微電子器件(第3版)》是2011年2月電子工業出版社出版的圖書,作者是陳星弼、張慶中、陳勇。

基本介紹

  • 中文名:微電子器件(第3版)
  • 作者:陳星弼、張慶中、陳勇
  • 出版社:電子工業出版社
  • 出版時間:2011年2月
  • 頁數:316 頁
  • 定價:49.9 元
  • 開本:16 開
  • ISBN:9787121128097
內容簡介,圖書目錄,

內容簡介

本書首先介紹半導體器件基本方程。在此基礎上,全面系統地介紹PN結二極體、雙極結型電晶體(BJT)和絕緣柵場效應電晶體(MOSFET)的基本結構、基本原理、工作特性和SPICE模型。本書還介紹了主要包括HEMT和HBT的異質結器件。書中提供大量習題,便於讀者鞏固及加深對所學知識的理解。

圖書目錄

第1章半導體器件基本方程
1.1半導體器件基本方程的形式
1.2基本方程的簡化與套用舉例
本章參考文獻
第2章PN結
2.1PN結的平衡狀態
2.1.1空間電荷區的形成
2.1.2內建電場、內建電勢與耗盡區寬度
2.1.3能帶圖
2.1.4線性緩變結
2.1.5耗盡近似和中性近似的適用性[1]
2.2PN結的直流電流電壓方程
2.2.1外加電壓時載流子的運動情況
2.2.2勢壘區兩旁載流子濃度的玻耳茲曼分布
2.2.3擴散電流
2.2.4勢壘區產生複合電流[2,3]
2.2.5正嚮導通電壓
2.2.6薄基區二極體
2.3準費米能級與大注入效應
2.3.1自由能與費米能級
2.3.3大注入效應
2.4PN結的擊穿
2.4.1碰撞電離率和雪崩倍增因子
2.4.2雪崩擊穿
2.4.3齊納擊穿
2.4.4熱擊穿
2.5PN結的勢壘電容
2.5.1勢壘電容的定義
2.5.2突變結的勢壘電容
2.5.3線性緩變結的勢壘電容
2.5.4實際擴散結的勢壘電容
2.6PN結的交流小信號特性與擴散電容
2.6.1交流小信號下的擴散電流
2.6.2交流導納與擴散電容
2.6.3二極體的交流小信號等效電路
2.7PN結的開關特性
2.7.1PN結的直流開關特性
2.7.2PN結的瞬態開關特性
2.7.3反向恢復過程
2.7.4存儲時間與下降時間
2.8SPICE中的二極體模型
習題二
本章參考文獻
3.1雙極結型電晶體基礎
3.1.1雙極結型電晶體的結構
3.1.2偏壓與工作狀態
3.1.3少子濃度分布與能帶圖
3.1.4電晶體的放大作用
3.2均勻基區電晶體的電流放大係數[1~11]
3.2.2基區渡越時間
3.2.3發射結注入效率
3.2.4電流放大係數
3.3緩變基區電晶體的電流放大係數
3.3.1基區內建電場的形成
3.3.2基區少子電流密度與基區少子濃度分布
3.3.3基區渡越時間與輸運係數
3.3.4注入效率與電流放大係數
3.3.5小電流時放大係數的下降
3.3.6發射區重摻雜的影響
3.3.7異質結雙極型電晶體
3.4雙極結型電晶體的直流電流電壓方程
3.4.1集電結短路時的電流
3.4.2發射結短路時的電流
3.4.3電晶體的直流電流電壓方程
3.4.4電晶體的輸出特性
3.5雙極結型電晶體的反向特性
3.5.1反向截止電流
3.5.2共基極接法中的雪崩擊穿電壓
3.5.3共發射極接法中的雪崩擊穿電壓
3.5.4發射極與基極間接有外電路時的反向電流與擊穿電壓
3.5.5發射結擊穿電壓
3.5.6基區穿通效應
3.6基極電阻
3.6.1方塊電阻
3.6.2基極接觸電阻和接觸孔邊緣下到工作基區邊緣的電阻
3.6.3工作基區的電阻和基極接觸區下的電阻
3.7雙極結型電晶體的功率特性
3.7.1大注入效應
3.7.2基區擴展效應
3.7.3發射結電流集邊效應
3.7.4電晶體的熱學性質
3.7.5二次擊穿和安全工作區
3.8電流放大係數與頻率的關係
3.8.1高頻小信號電流在電晶體中的變化
3.8.2基區輸運係數與頻率的關係
3.8.3高頻小信號電流放大係數
3.8.4電晶體的特徵頻率
3.8.5影響高頻電流放大係數與特徵頻率的其他因素
3.9高頻小信號電流電壓方程與等效電路
3.9.1小信號的電荷控制模型
3.9.2小信號的電荷電壓關係
3.9.3高頻小信號電流電壓方程
3.9.4Y參數
3.9.5小信號等效電路
3.10功率增益和最高振盪頻率
3.10.1高頻功率增益與高頻優值
3.10.2最高振盪頻率
3.10.3高頻電晶體的結構
3.11雙極結型電晶體的開關特性
3.11.1電晶體的靜態大信號特性
3.11.2電晶體的直流開關特性
3.11.3電晶體的瞬態開關特性
3.12SPICE中的雙極電晶體模型
3.12.1埃伯斯-莫爾(EM)模型
3.12.2葛謀-潘(GP)模型[46]
3.13雙極結型電晶體的噪聲特性
3.13.1噪聲與噪聲係數
3.13.2電晶體的噪聲源
3.13.3電晶體的高頻噪聲等效電路
3.13.4電晶體的高頻噪聲係數
3.13.5電晶體高頻噪聲的基本特徵
習題三
本章參考文獻
第4章絕緣柵型場效應電晶體
4.1MOSFET基礎
4.2MOSFET的閾電壓
4.2.1MOS結構的閾電壓
4.2.2MOSFET的閾電壓
4.3MOSFET的直流電流電壓方程
4.3.1非飽和區直流電流電壓方程
4.3.2飽和區的特性
4.4MOSFET的亞閾區導電
4.5MOSFET的直流參數與溫度特性
4.5.1MOSFET的直流參數
4.5.2MOSFET的溫度特性
4.5.3MOSFET的擊穿電壓
4.6MOSFET的小信號參數、高頻等效電路及頻率特性
4.6.1MOSFET的小信號交流參數
4.6.2MOSFET的小信號高頻等效電路
4.6.3最高工作頻率和最高振盪頻率
4.6.4溝道渡越時間
4.7MOSFET的噪聲特性[8]
4.7.11/f噪聲
4.7.2溝道熱噪聲
4.7.3誘生柵極噪聲
4.7.4高頻噪聲等效電路和高頻噪聲係數
4.8短溝道效應
4.8.2遷移率調製效應
4.8.3漏誘生勢壘降低效應
4.8.4強電場效應
4.9MOSFET的發展方向
4.9.1按比例縮小的MOSFET
4.9.2雙擴散MOSFET
4.9.3SOSMOSFET
4.9.4深亞微米MOSFET
4.10SPICE中的MOSFET模型
4.10.1MOS1模型
4.10.2MOS2模型
4.10.3MOS3模型
4.10.4電容模型
4.10.5小信號模型
4.10.6串聯電阻的影響
習題四
本章參考文獻
第5章半導體異質結器件
5.1半導體異質結
5.1.1半導體異質結的能帶突變
5.1.2半導體異質結伏安特性
5.2.1高電子遷移率電晶體的基本結構
5.2.2HEMT的工作原理
5.2.3異質結界面的二維電子氣
5.2.4高電子遷移率電晶體(HEMT)的直流特性
5.2.5HEMT的高頻模型
5.2.6HEMT的高頻小信號等效電路
5.2.7高電子遷移率電晶體(HEMT)的頻率特性
5.3.1HBT的基礎理論
5.3.2能帶結構與HBT性能的關係
5.3.3異質結雙極電晶體的特性
5.3.4Si/Si1-xGex異質結雙極電晶體
習題五
本章參考文獻
附錄A電晶體設計中的一些常用圖表
A.1擴散結勢壘區寬度xd與勢壘電容CT和外加電壓V的關係曲線
A.2室溫下矽電阻率隨施主或受主濃度的變化
A.3擴散結的耗盡區在擴散層一側所占厚度xCB對耗盡區總
A.4矽中擴散層的電導率曲線
A.5矽中載流子的遷移率與擴散係數曲線

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