微機電系統(MEMS)技術—MEMS結構共振疲勞試驗方法

《微機電系統(MEMS)技術—MEMS結構共振疲勞試驗方法》是2020年7月1日實施的一項中國國家標準

基本介紹

  • 中文名:微機電系統(MEMS)技術—MEMS結構共振疲勞試驗方法
  • 外文名:Micro-electromechanical system technology—Fatigue testing method of MEMS structure using resonant vibration
  • 標準號:GB/T 38447-2020
  • 中國標準分類號:L55
編制進程,起草工作,

編制進程

2020年3月6日,《微機電系統(MEMS)技術—MEMS結構共振疲勞試驗方法》發布。
2020年7月1日,《微機電系統(MEMS)技術—MEMS結構共振疲勞試驗方法》實施。

起草工作

主要起草人:張威、張亞婷、朱悅、石雲波、周浩楠、陳得民、于振毅、陸學貴、李海斌、程逸軒。

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