半導體雷射測量系統是一種用於能源科學技術領域的電子測量儀器,於2006年9月6日啟用。
基本介紹
- 中文名:半導體雷射測量系統
- 產地:中國
- 學科領域:能源科學技術
- 啟用日期:2006年9月6日
- 所屬類別:電子測量儀器 > 通用電子測量儀器 > 積體電路測試儀
半導體雷射測量系統是一種用於能源科學技術領域的電子測量儀器,於2006年9月6日啟用。
半導體雷射測量系統是一種用於能源科學技術領域的電子測量儀器,於2006年9月6日啟用。技術指標多種氣體檢測 ppm級氣體濃度檢測 ms級時間解析度。1主要功能氣體濃度檢測。1...
半導體雷射器測試系統 半導體雷射器測試系統是一種用於化學領域的分析儀器,於2017年4月18日啟用。技術指標 210-2400nm連續可調。主要功能 用於不同溫度下材料的非線性光學性能測試。
半導體雷射雲高自動測量系統是由中國科學院合肥物質科學研究院安徽光學精密機械研究所完成的科技成果,登記於2010年7月24日。成果信息 項目成員 劉文清;張玉鈞;韓道文;阮俊;何俊峰;陳臻懿;李勝;王立明;王亞平;陳軍;高閩光;...
半導體雷射器微通道列陣測試系統是一種用於電子與通信技術領域的科學儀器,於2009年1月1日啟用。技術指標 注入電流:0A-300A連續可調;占空比:0.5%-100% 連續可調;電壓:0V-100V;探測功率:10W-1000W,可分檔進行,測試誤差...
《外腔半導體雷射器線性調頻絕對距離干涉測量系統的研究》是一部出版的論文,作者是武勇軍。副題名外文題名論文作者武勇軍著導師李達成教授指導學科專業光學儀器學位級別d 1994n學位授予單位清華大學學位授予時間...
半導體特性測量系統是一種用於材料科學領域的物理性能測試儀器,於2012年06月06日啟用。技術指標 該儀器具有四個源測量單元(SMU),其中包括三個0.1fA的高解析度SMU和一個1A的大功率SMU。主要功能 各種微米和納米器件的電學性能測試。
開發了高功率半導體雷射器的變步長掃描電流下的電導數的測量系統,為半導體雷射器1/ƒ噪聲提供了對比和參考數據。研究了電老化器件的1/f噪聲特性,通過與電導數的初始峰的對比,發現1/f噪聲強度與器件內部缺陷、腔面損傷及表面漏電等...
分布儀系統是集光、機、電、計算機為一體的高科技產品,它採用進口半導體雷射器,壽命長,單色性好;先進的機械設計與加工工藝和微電子積體電路技術。由來 高靈敏度的光電池接收系統,全程米氏理論作為 基礎,結合優異的計算方法。使測試...
半導體雷射器又稱雷射二極體,是用半導體材料作為工作物質的雷射器。由於物質結構上的差異,不同種類產生雷射的具體過程比較特殊。常用工作物質有砷化鎵(GaAs)、硫化鎘(CdS)、磷化銦(InP)、硫化鋅(ZnS)等。激勵方式有電注入、電子束...
旁路型雷射旁路測量,測量精度高,抗干擾能力強 光學非接觸測量,可直接測量高溫、強腐蝕性氣體 旁路處理裝置簡單、可靠,可直接安裝在過程管道處 全系統防爆,支持氣體溫度、壓力自動補償 分布型 分散式雷射測量,支持八個測量通道,高性價...
該非掃描半導體雷射主動成像雷達, 採用距離成像方式, 最大作用距離1km, 距離解析度可達15 -1cm。其雷射器光源部分由時間積分電荷耦合器件CCD 陣列照相機記錄, 這種方法通過測量在光學接收系統光亮度調製的相位移動與參照物的比較來確定目標...
這三種技術的結合,可以高度準確地定位雷射束打在物體上的光斑。它又分為日臻成熟的用於獲得地面數字高程模型(DEM)的地形LIDAR系統和已經成熟套用的用於獲得水下DEM的水文LIDAR系統,這兩種系統的共同特點都是利用雷射進行探測和測量,這也...
已演示不同的距離分辨對大氣風速和遠距離硬目標測量.1.32μm 的半導體二極體泵浦Nd :YLF 雷射成像雷達系統包括二極體泵浦、Q 開關Nd :YLF 雷射發射機、雷射接收機、距離計數器, 測量2km 距離的目標陸續試驗成功。迅速開發了商品化的...
(3)信息處理部分的主要作用是進行衛星測站預報,跟蹤衛星,測量雷射脈衝從測距系統到被測衛星往返一次的時間間隔t,並準確顯示和記錄在計算機硬碟上,再由人工或自動方式形成標準格式。(4)信息傳輸部分的作用是通過通訊網路接收軌道預報...
為了滿足微型化和現場測量的要求,利用固定在半導體雷射器上的MEMS加速計測量由外部干擾帶來的干涉儀本身的振動,對微位移測量的結果進行校正。研究成果將為半導體雷射自混合干涉位移感測系統的實用化道路提供有益的參考。結題摘要 雷射自混合...
雷射全息測量儀是一種測量儀。系統的核心, Trimos DHM® (數字全息顯微鏡), 源於在生物醫學領域採用的技術,系統本身基於表面結構的物理信息特徵分析,採用這種技術用於工業領域表面檢查為Trimos專有。與傳統非接觸表面測量儀相比,可以測量...
雷射具有高強度、高度方向性、空間同調性、窄頻寬和高度單色性等優點。目前常用來測量長度的干涉儀,主要是以麥可遜干涉儀為主,並以穩頻氦氖雷射為光源,構成一個具有干涉作用的測量系統。雷射干涉儀可配合各種折射鏡、反射鏡等來作...
雷射干涉測量系統 雷射干涉測量系統是一種用於工程與技術科學基礎學科、材料科學領域的計量儀器,於2008年03月10日啟用。技術指標 0.1ppm+/-2.5nm+/-2nm。主要功能 配套長度實物標準器熱脹係數測量裝置。
由發射系統、接收系統 、信息處理等部分組成。發射系統是各種形式的雷射器,如二氧化碳雷射器、摻釹釔鋁石榴石雷射器、半導體雷射器及波長可調諧的固體雷射器以及光學擴束單元等組成;接收系統採用望遠鏡和各種形式的光電探測器,如光電倍增管...
雷射二極體測試系統 雷射二極體測試系統是一種用於物理學領域的工藝試驗儀器,於2015年12月8日啟用。技術指標 發散角測量範圍0-180度。主要功能 半導體雷射器參數測試。
雷射掃描檢測儀主要由以下幾部分組成:①由光學機械掃描器和掃描光學系統組成的雷射掃描發射器;②由接收光學系統和光電轉換電子學系統構成的雷射掃描接收器;③以單片機為核心的實時控制與數據處理系統構成的控制器;④半導體雷射電源;整個...
UTM-30LX是HOKUYO公司研發生產的2D雷射掃描測距儀。產品用途 機器人環境識別 、 建築物入侵保護(安防)、 自動門/行為方式識別、 自動導航車輛(AGV)障礙檢測、 無人飛行器避障和自主導航。設計原理 雷射時間飛行原理-Time of flight:...
按照不同功能,雷射雷達可分為跟蹤雷達,運動目標指示雷達,流速測量雷達,風剪下探測雷達,目標識別雷達,成像雷達及振動感測雷達。相干探測型雷射雷達又有單穩與雙穩之分,在所謂單穩系統中,傳送與接收信號共同在所謂單穩態系統中,傳送...
為尋求OFDR系統的商業化,國外對採用半導體雷射器作為光源的OFDR系統進行了研究和探討。1990年Sorin等人用波長為1.32 的ND:YAG雷射器作為光源,得到了較長的相干時間,測量範圍達到了50km。解析度達到了380m。1995年Tsuii等人用波長為1....
相位法測距儀是將雷射的相位進行調製,通過測量反射回來的雷射的相位差來獲得距離的測距儀。由於需要對反射回來的雷射相位進行檢相,所以要求接收信號需要具有較強的強度,考慮到人眼的安全性,所以不能採用脈衝式雷射測距儀一樣的望遠系統...