半導體雷射器測試系統

半導體雷射器測試系統是一種用於化學領域的分析儀器，於2017年4月18日啟用。

基本介紹

• 中文名：半導體雷射器測試系統
• 產地：美國
• 學科領域：化學
• 啟用日期：2017年4月18日
• 所屬類別：分析儀器 > 光譜儀器 > 雷射光譜儀

技術指標

210-2400nm連續可調。

主要功能

用於不同溫度下材料的非線性光學性能測試。