半導體雷射器微通道列陣測試系統

半導體雷射器微通道列陣測試系統是一種用於電子與通信技術領域的科學儀器，於2009年1月1日啟用。

基本介紹

• 中文名：半導體雷射器微通道列陣測試系統
• 產地：中國
• 學科領域：電子與通信技術
• 啟用日期：2009年1月1日

技術指標

注入電流：0A－300A連續可調；占空比：0.5％－100％ 連續可調；電壓：0V－100V；探測功率：10W－1000W，可分檔進行，測試誤差小於5％；探測光譜：780nm－1100nm，並在測試電流功率曲線時時時檢測光譜的變化；可測試PL15以及PL28微通道封裝形式。

主要功能

測試。