半導體參數分析儀是一種用於信息科學與系統科學領域的工藝試驗儀器，於2006年11月01日啟用。
基本介紹
- 中文名：半導體參數分析儀
- 產地：中國
- 學科領域：信息科學與系統科學
- 啟用日期：2006年11月01日
- 所屬類別：工藝試驗儀器 > 電子工藝實驗設備
技術指標,主要功能,
技術指標
0.5x0.5x0.5m。
主要功能
0.5x0.5x0.5m。
半導體參數分析儀
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