容易使用的4200-SCS型半導體特性分析系統用於實驗室級的器件直流參數測試、實時繪圖與分析,具有高精度和亞fA級的解析度。它提供了最先進的系統集成能力,包括完整的嵌入式PC機,Windows作業系統與大容量存儲器。其自動記錄、點擊式接口加速並簡化了獲取數據的過程,這樣用戶可以更快地開始分析測試結果。其它一些特徵使得應力測量功能能夠滿足各種可靠性測試的需求。
容易使用的4200-SCS型半導體特性分析系統用於實驗室級的器件直流參數測試、實時繪圖與分析,具有高精度和亞fA級的解析度。它提供了最先進的系統集成能力,包括完整的嵌入式PC機,Windows作業系統與大容量存儲器。其自動記錄、點擊式接口加速並簡化了獲取數據的過程,這樣用戶可以更快地開始分析測試結果。其它一些特徵使得應力測量功能能夠滿足各種可靠性測試的需求。
容易使用的4200-SCS型半導體特性分析系統用於實驗室級的器件直流參數測試、實時繪圖與分析,具有高精度和亞fA級的解析度。它提供了最先進的系統集成能力,包括完整的...
4200-SCS型半導體特性分析系統- 集成前沿的脈衝能力和精密DC測量,用於65nm節點及更小尺寸707B型半導體開關係統系列產品 編輯 Model 708B Single-Slot, Semiconductor ...
S530型參數測試系統4200-SCS型半導體特性分析系統ACS自動特徵分析套件系統2182A型納伏表6220/6221型直流電流源6514型靜電計6517B型靜電計/高阻系統6485/6487皮安表...
4200-SCS型半導體特性分析系統- 集成前沿的脈衝能力和精密DC測量,用於65nm節點及更小尺寸參考資料 1. 237型高電壓源測量單元 .吉時利官方網站[引用日期2012-06-28...
一台或兩台大電流2651A測量儀器以及多達3台低功率SMU儀器(其它2600A系列儀器或4200-SCS半導體特性分析系統)的器件測試系統。V百科往期回顧 詞條統計 瀏覽次數:次 ...
一台或兩台大電流2651A測量儀器以及多達3台低功率SMU儀器(其它2600A系列儀器或4200-SCS半導體特性分析系統)的器件測試系統。V百科往期回顧 詞條統計 瀏覽次數:次 ...
檢測設備包括JEOL 6401SEM,Keithley 4200-SCS 半導體特性分析系統、Keithley 590CV測試儀、Cascade RF-1探針台、共聚焦光學顯微鏡、台階儀、多功能變溫射頻微區物性...
概述4225-PMU超快I-V模組1進一步豐富了4200-SCS半導體特徵分析系統的可選測試儀器系列。它在4200-SCS已有的強大測試環境中集成了超快的電壓波形發生和信號觀察功能,...
9 納米中心所級服務中心 vi-cell細胞培養分析儀 Vi-cell 10 納米加工技術實驗室 半導體器件分析儀 B1500A 11 納米檢測實驗室 半導體特性測試系統 4200-SCS ...