光學面形測量系統是一種用於工程與技術科學基礎學科領域的物理性能測試儀器,於2016年9月3日啟用。
基本介紹
- 中文名:光學面形測量系統
- 產地:中國
- 學科領域:工程與技術科學基礎學科
- 啟用日期:2016年9月3日
- 所屬類別:物理性能測試儀器 > 光電測量儀器
光學面形測量系統是一種用於工程與技術科學基礎學科領域的物理性能測試儀器,於2016年9月3日啟用。
光學面形測量系統是一種用於工程與技術科學基礎學科領域的物理性能測試儀器,於2016年9月3日啟用。技術指標 光學元件輪廓測量,面形測量精度優於1/10波長 軸向分辨力:1/10波長。主要功能 光學面形測量系統是非接觸式3D表面輪廓形貌測量...
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光學三維掃描測量系統 光學三維掃描測量系統是一種用於機械工程領域的計量儀器,於2012年10月26日啟用。技術指標 單幅測量範圍500mm*400mm,相機解析度400萬像素。主要功能 自由曲面的三維形貌測量。
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