光學測量儀及附屬檔案是一種用於工程與技術科學基礎學科領域的計量儀器,於2011年11月9日啟用。
基本介紹
- 中文名:光學測量儀及附屬檔案
- 產地:美國
- 學科領域:工程與技術科學基礎學科
- 啟用日期:2011年11月9日
- 所屬類別:計量儀器 > 光學計量儀器 > 漫透射視覺
光學測量儀及附屬檔案是一種用於工程與技術科學基礎學科領域的計量儀器,於2011年11月9日啟用。
光學測量儀及附屬檔案是一種用於工程與技術科學基礎學科領域的計量儀器,於2011年11月9日啟用。技術指標XY方向(1.8+4L)/1000mZ方向(2.5+5L)測量範圍250X150X200mm。1主要功能非接觸式光學測量...
光學測量儀器套用 掃描波長光學測量解決方案 結合使用一個或多個光功率計與可調雷射源 (TLS),可以支持光功率與波長關係測量。此類測量常用於確定被測器件輸入功率與輸出功率的比值,比值稱為插入損耗,單位為 dB。當 TLS 在選中範圍內...
三維光學測量儀,又名三維影像測量儀與非接觸式測量儀,伴隨現代工業高精度、微製造產業的升級,非接觸方式成為大勢所趨。突破傳統,採用非接觸式三維測量方式進行快速精密的幾何尺寸和形位公差的測量,成為必然。因其在微型精密測量領域的...
數顯光學測量顯微鏡,是一種測量儀器。簡介 ZY6036A數顯光學測量顯微鏡 Digitalreadoutopticalmeasuringmicroscope 電線電纜測量顯微鏡,電纜護套截面測量顯微鏡,電纜絕緣壁厚測量顯微鏡K-GXW數顯光學測量顯微鏡電線電纜測量顯微鏡電纜絕緣護套測量...
光學測量儀是一種用於材料科學領域的分析儀器,於2012年6月5日啟用。技術指標 測量範圍(XYZ):三維測量300*150*150;XYZ軸解析度:0.5μm;重複精度:0.5μm;變焦鏡:6.5:1,自動;高速高精度伺服馬達控制系統,位移速度400mm...
儀器進一步可連線CCD電視攝像頭,作工件的輪廓放大;亦可連線計算機進行數據處理等測量。分類簡介 光學測量顯微鏡 採用透、反射的方式對工件長度和角度作精密測量。主要運用於錄像磁頭、大規模積體電路線寬以及其它精密零件的測試。廣泛地適用於...
光學影像測量儀是集光學、機械、電子、計算機圖像處理技術於一體的高精度、高效率、高可靠性的測量儀器。由光學放大系統對被測物體進行放大,經過CCD攝像系統採集影像特徵並送入計算機後,可高效地檢測各種複雜精密零部件的輪廓和表面形狀尺寸...
光學掃描測量儀是一種用於基礎醫學領域的計量儀器,於2017年09月28日啟用。技術指標 掃描精度≥0.1mm,體積精度≥0.3mm/m,結合攝影測量系統精度≥0.025mm/m;掃描速度:≥550,000個測量/秒;解析度:0.1mm;基準距:380 mm;景深...
三維影像測量儀,又名非接觸式三維光學測量儀,是用於測量三維幾何尺寸和形位公差的高精度測量儀器。它克服了傳統投影儀和二維影像測量的不足,是集光學、機械、電子、計算機圖像處理技術於一體的高精度、高效率、高可靠性的測量儀器。產品...
光學材料均勻性測量儀是一種用於信息與系統科學相關工程與技術領域的物理性能測試儀器,於2016年06月05日啟用。技術指標 (1)測試範圍:≤300mm; (2)測量重複性: σ_PV≤0.005λ σ_rms≤0.001λ; (3)最大允許誤差 ...
光學式形貌測量儀是一種用於物理學、生物學、基礎醫學、材料科學領域的計量儀器,於2010年2月14日啟用。技術指標 Z Range:2.2mm after stiching>10mm Resolution:0.01nm。主要功能 通過光學的方法,非接觸測量樣品的三維表面形貌。
儀器分類 光學計量儀器:數位化影像測量儀、雷射測厚儀、量具、光學影像投影儀、雷射抄數儀、全自動影像測量儀、工具顯微鏡、三坐標測量儀、全自動光學測量儀;光學檢測儀器:光學檢測儀、X射線檢查、數碼光學檢查儀、返修工作檯、線上檢測...
JGX-2型大型工具顯微鏡是一種最基礎的精密光學測量儀器,儀器備有多種附屬檔案。並配備不同的放大倍率,以便對微小工件也能作精確的測定. 大型工具顯微鏡為工廠、科學研究機構及高等院校的計量部門廣泛使用的一種多用途的計量儀器。作為工具...