光學材料均勻性測量儀

光學材料均勻性測量儀是一種用於信息與系統科學相關工程與技術領域的物理性能測試儀器，於2016年06月05日啟用。

基本介紹

• 中文名：光學材料均勻性測量儀
• 產地：美國
• 學科領域：信息與系統科學相關工程與技術
• 啟用日期：2016年06月05日
• 所屬類別：物理性能測試儀器

技術指標

（1）測試範圍：≤300mm；　　 　（2）測量重複性：σ_PV≤0.005λ σ_rms≤0.001λ； （3）最大允許誤差Δ_PV≤0.05λ Δ_rms≤0.01λ。

主要功能

用於測量光學材料均勻性。