中國自由貿易試驗區智慧財產權制度創新

《中國自由貿易試驗區智慧財產權制度創新》是格致出版社出版的圖書，作者是楊建鋒，張磊

基本介紹

• 作者：楊建鋒、張磊
• 出版社：格致出版社
• 出版時間：2016年8月1日
• 頁數：104 頁
• 定價：30.00 元 
• 裝幀：平裝
• ISBN：9787543226371

內容簡介

本書共分為6章，主要內容包括:上海自貿試驗區智慧財產權制度創新的背景、自由貿易區智慧財產權保護基本問題與國際實踐、以上海自貿試驗區作為我國應對智慧財產權國際新挑戰的橋頭堡等。