X射線雙微焦斑衍射儀

X射線雙微焦斑衍射儀是一種用於化學領域的分析儀器，於2013年11月1日啟用。

基本介紹

• 中文名：X射線雙微焦斑衍射儀
• 產地：波蘭
• 學科領域：化學
• 啟用日期：2013年11月1日
• 所屬類別：分析儀器 > X射線儀器 > X射線衍射儀

技術指標

1. Eos CCD 檢測器 2. 微焦斑Mo光源（Mova）或/和 微焦斑Cu光源（Nova） 3. 四圓 kappa 測角儀。

主要功能

1. 檢測器：採用級別最高、缺陷率最低的CCD晶片，是高靈敏度和大有效探測面積的最佳組合，適合於收集蛋白質晶體和小分子晶體的衍射數據。 2. 光源：（1）雙光源平台設計，計算機控制切換Mo和Cu光源；（2）SuperNova使用的雙光源為高強度、低能耗的微焦斑X射線源。安捷倫科技自主開發的Nova（Cu）和Mova（Mo）光源，融合了最新的微焦斑和多層膜光學技術。Mova光源光強度比帶單導管的傳統封閉管高2.5 倍；Nova光源光強度比帶光學部件的5 kW 轉靶高3 倍。（3）採用一體化光路設計，最大限。