《STM.AFM探針懸臂微細加工技術的理論與方法研究》是依託清華大學,由薛實福擔任項目負責人的面上項目。
基本介紹
- 中文名:STM.AFM探針懸臂微細加工技術的理論與方法研究
- 依託單位:清華大學
- 項目負責人:薛實福
- 項目類別:面上項目
- 批准號:59375239
- 申請代碼:E0509
- 負責人職稱:教授
- 研究期限:1994-01-01 至 1996-12-31
- 支持經費:6(萬元)
《STM.AFM探針懸臂微細加工技術的理論與方法研究》是依託清華大學,由薛實福擔任項目負責人的面上項目。
《STM.AFM探針懸臂微細加工技術的理論與方法研究》是依託清華大學,由薛實福擔任項目負責人的面上項目。項目摘要STM、AFM探針懸臂樑(即感測器)微細加工技術的理論與方法項目研究了使用要求,制出圖表結構設計和用有限無結...
AFM探針基本都是由MEMS技術加工 Si 或者 Si3N4來製備。探針針尖半徑一般為10到幾十nm。微懸臂通常由一個一般100~500μm長和大約500nm~5μm厚的矽片或氮化矽片製成。典型的矽微懸臂大約100μm長、10μm寬、數微米厚。利用探針與樣品之間各種不同的相互作用的力而開發了各種不同套用領域的顯微鏡,如AFM(范德...
原子力顯微鏡技術 原子力顯微鏡(Atomic Force Microscopy,AFM)是由IBM公司的Binning與史丹福大學的Quate於1985年發明的,其目的是為了使非導體也可以採用掃描探針顯微鏡(SPM)進行觀測。原子力顯微鏡通過探針與被測樣品之間的微弱的相互作用力( 原子間力) 來獲得物質表面的形貌。原子力顯微鏡將探針裝在一彈性微懸臂的一...
同時受制其定量化分析的不足,因此SPM 的計量化也是人們正在致力於研究的另一重要方向,這對於半導體工業和超精密加工技術來說有著非同一般的意義 掃描隧道顯微鏡(STM)在化學中的套用研究雖然只進行了幾年,但涉及的範圍已極為廣泛。因為掃描隧道顯微鏡(STM)的最早期研究工作是在超高真空中進行的,因此最直接的化學...
技術指標 真空:1?10-10 mbar,最低工作溫度:5K,溫度穩定性:10mK,可變溫度範圍:5K-300K,液氦消耗量:小於0.1L/小時 (5K),掃描範圍:1μm?1μm?0.1μm (5K),熱漂移:0.2nm/小時,振動噪音:2 pm,最小隧道電流:1pA,STM/AFM空間分辨:原子級分辨(0.1 nm),光學兼容性:掃描探頭上直接...
納米體系物理學、納米化學、納米材料學、納米生物學、納米電子學、納米加工學、納米力學等。這七個相對獨立又相互滲透的學科和納米材料、納米器件、納米尺度的檢測與表征這三個研究領域。納米材料的製備和研究是整個納米科技的基礎。其中,納米物理學和納米化學是納米技術的理論基礎,而納米電子學是納米技術最重要的內容...
電極間輸運的微觀物理機制,從而全面地理解其物理效應。本項將主要利用超高真空低溫及磁場下的STM、AFM,結合微納加工技術,研究分子與電極界面相互作用對電子輸運過程的影響;特殊功能分子結構的構造和物性的實現;磁性分子體系中與自旋相關物性研究,以期從機理上理解這些單分子體系中的物理性質並發現新的效應。
第五章 基於微納加工技術的納米生物感測器件 第一節 概述 第二節 微納加工技術介紹 第三節 微納生物感測技術 第四節 生物晶片 第五節 其他納米生物器件 第六節 綜述 第六章 生命科學研究中的納米表征技術——原子力顯微術 第一節 概述 第二節 AFM的基本原理 第三節 AFM高分辨成像 第四節 AFM單分子力譜...
《深空環境頻率調製原子力顯微鏡測量技術研究》是依託北京航空航天大學,由李英姿擔任項目負責人的面上項目。項目摘要 將原子力顯微鏡套用於深空探測對於人類真實、準確地了解太空物質的微觀形貌及性質具有重要意義。頻率調製原子力顯微鏡(FM-AFM)工作頻寬不受品質因數Q值限制,可以使用高Q值微懸臂探針,相比幅度調製原子力...
功能。本書共分10章,主要內容有:表面技術概論、表面科學的某些基 本概念和理論、電鍍和化學鍍、金屬的化學處理、表面塗敷技術、表面改 性技術、氣相沉積技術、複合表面處理和高分子表面金屬化技術、表面微 細加工技術、表面分析和檢測。本書是有關表面技術的一本基本教材,可供各大專院校有關專業師生 使用,同時也...
8.新型高精度AFM技術研究 杭州亞納科技有限公司 20081231 9.用於納米計量的雙元原子力顯微鏡技術 20060310 10.新型高精度AFM技術研究 企事業單位委託科技項目 2006-12-13 11.臥式原子力顯微鏡技術開發 20051127 12.新型掃描探針顯微鏡(SPM)研製 20050528 13.臥式原子力顯微鏡技術 企事業單位委託科技項目 2005-11-17 ...
限於技術水平,並沒有真正意義上的納米級體積、可控的納米機器人,而用於納米級操作的裝置,只要求裝置的末端操作尺寸微小精確即可,並不要求裝置本身的尺寸是納米級的,與常規機器人類似,因此發展較快,比如STM 和AFM。發展歷史 早在1959年率先提出納米技術的構想是諾貝爾獎得主、理論物理學家理察-費曼,他提出利用...
橫向力顯微鏡(LFM)是在原子力顯微鏡(AFM)表面形貌成像基礎上發展的新技術之一。工作原理與接觸模式的原子力顯微鏡相似。當微懸臂在樣品上方掃描時,由於針尖與樣品表面的相互作用,導致懸臂擺動,其擺動的方向大致有兩個:垂直與水平方向。一般來說,雷射位置探測器所探測到的垂直方向的變化,反映的是樣品表面的形態...
一般的AFM玻璃微絲在體積上大於懸臂,因此時空解析度不如後者,但測力精度可達到皮牛或0.1皮牛級。光鑷可測到亞秒時間內的皮牛力與納米的位移。由巴黎高師統計物理實驗室發明的磁鑷技術的力敏單元是一種磁性顆粒,垂直移動磁場或旋轉磁場可同時對生物大分子施力或力矩。單分子實時視見,主要依據入射光激發的生物分子...
光電子能譜技術包括X光電子能譜(XPS)和俄歇光電子能譜(AES);光譜分析掛術包括紅外光譜(IR)和Raman光譜;顯微分析技術中有掃描隧道顯微鏡(STM),原子力顯微鏡(AFM)及掃描和透射電子顯微鏡(SEM、TEM);X射線分析技術主要是X射線衍射(XRD)。方法介紹 X光電子能譜:是電子材料 與元器件顯微分析中的一種先進分析技術...
根據懸臂材料的不同,懸臂恢復力常數從0.01到100N/m。磁性探針在靈敏的槓桿(懸臂)的一端,通常是塗油磁性材料的AFM探針。在過去,探針通過蝕刻鎳之類的磁性材料獲得。現在, 探針(探針懸臂)通過結合微加工和光刻技術來製造。因此,更小的探針得以製造,並且具有更好的操控性。懸臂可以由單晶矽,二氧化矽(SiO₂...
而(1), (2), (3)則與其他技術有區別。(1) 探針:與 STM 中的金屬探針和 AFM 的懸臂探針不同的是, 這裡一般採用介電材料探針,可以發射或接受光子,尖端尺度在10~100nm,以能夠將收集到的光子傳送到探測器, 探針可用拉細的錐形光纖, 四方玻璃尖端,石英晶體等製成,探針的核心問題是小尺度和高的光通過...
AFM探針基本都是由MEMS技術加工 Si 或者 Si3N4來製備. 探針針尖半徑一般為10到幾十 nm。微懸臂通常由一個一般100~500μm長和大約500nm~5μm厚的矽片或氮化矽片製成。典型的矽微懸臂大約100μm長、10μm寬、數微米厚。利用探針與樣品之間各種不同的相互作用的力而開發了各種不同套用領域的顯微鏡,如AFM(...
材料科學分會場包含:1.顯微學理論、技術與儀器發展;2.原位電子顯微學表征;3.能源、環境和信息等功能材料的微結構表征; 4.結構材料及缺陷、界面、表面,相變與擴散;5. 先進顯微分析技術在工業材料中的套用;6.掃描探針顯微學分會場(STM/AFM等);7.掃描電子顯微學(EBSD)。生命科學分會場包含:8. 低溫電子...
中國宇航學會光電子技術委員會專家委員會委員;中國機械製造工藝協會理事;黑龍江省刀具技術協會副理事長;黑龍江省模具技術協會副理事長。校內職務 2004年-2008年任機械製造及自動化系副主任 2008年至今任航空宇航製造工程系主任 研究方向 雷射加工技術;金屬切削與金屬切刀具;機械製造與裝備;紅外無損檢測技術。科研項目 ...
當單電子學的基本物理圖像變得清晰和至少有一種實驗室加工方法獲得成功後,單電子器件和電路的研究也就開始了它們的飛速發展。1990年Geerligs等人加工出了單電子旋轉柵。1 995年K.Matsumoto等人首次用STM/AFM方法加工出了室溫Ti/xTiO 單電子電晶體。1996年Mark W .Keller等人加工出了可用於精確的電流標準儀的單電子...
由於STM的使用有其局限性,Binnig等人在STM基礎上又研製了原子力顯微鏡(AFM)。AFM檢測針尖和試件之間的吸引或排斥力,所以可用於導體和非導體材料。掃描近場光學顯微鏡(SNOM)是利用被測樣品表面附近近光場的特性,來探測其表面形貌。其解析度可遠遠超過常規顯微鏡解析度的限制(λ/2)。 目前半導體工業中常用的成像檢測方...
AFM的圖像也可以使用“恆高”模式(Constant Height Mode)來獲得,也就是在X,Y掃描過程中,不使用反饋迴路,保持針尖與樣品之間的距離恆定,通過測量微懸臂Z方向的形變數來成像。這種方式不使用反饋迴路,可以採用更高的掃描速度,通常在觀察原子、分子像時用得比較多,而對於表面起伏比較大的樣品不適用。技術參數 ...