PIV粒子成像測速系統

PIV粒子成像測速系統是一種用於工程與技術科學基礎學科領域的分析儀器，於2017年1月1日啟用。

基本介紹

• 中文名：PIV粒子成像測速系統
• 產地：美國
• 學科領域：工程與技術科學基礎學科
• 啟用日期：2017年1月1日
• 所屬類別：分析儀器 > 電子光學儀器

技術指標

測速範圍：0-1000m/s；測量區域：不小於0.4*0.4m；相對精度：1%。

主要功能

PIV超出了單點測速技術（如CTA、LDA）的局限性，能在同一瞬態記錄下大量空間點上的速度分布信息，並可提供豐富的流場空。