粒子圖像測速系統

粒子圖像測速系統是一種用於動力與電氣工程領域的分析儀器，於2010年12月30日啟用。

基本介紹

• 中文名：粒子圖像測速系統
• 產地：英國
• 學科領域：動力與電氣工程
• 啟用日期：2010年12月30日
• 所屬類別：分析儀器 > 顯微鏡及圖象分析儀器 > 圖像分析儀

技術指標

I 雷射器：350毫焦/脈衝, 頻率15Hz,工作電壓220 V。附帶 導光臂（進口、1.8 米長）；II 同步器：時間解析度1ns；III PIV專用CCD：4K X 2.7K 像素，高信噪比, 12位輸出, 4.8 幀/秒, CCD雷射防護陣列, 60 mm/F2.8 透鏡；。

主要功能

PIV技術的特點是超出了單點測速技術的局限性，能在同一瞬態記錄下大量空間點上的速度分布信息，並可提供豐富的流場空間結構以及流動特性。另外PIV技術具有較高的測量精度。