高幀速三維層析粒子圖像測速系統是一種用於化學領域的分析儀器,於2018年12月3日啟用。
基本介紹
- 中文名:高幀速三維層析粒子圖像測速系統
- 產地:德國
- 學科領域:化學
- 啟用日期:2018年12月3日
- 所屬類別:分析儀器 > 質譜儀器
技術指標,主要功能,
技術指標
採樣頻率25.6KHz,解析度不低於1280x800 pix,動態範圍12bit,ISO最高100000,記憶體72GB。
主要功能
二維PIV軟體分析具備多格線疊代可變形視窗查詢算法,自適應算法,三維PIV軟體分析具備自標定能力和層析空間重構的測量和分析功能。