高幀速三維層析粒子圖像測速系統

高幀速三維層析粒子圖像測速系統是一種用於化學領域的分析儀器，於2018年12月3日啟用。

基本介紹

• 中文名：高幀速三維層析粒子圖像測速系統
• 產地：德國
• 學科領域：化學
• 啟用日期：2018年12月3日
• 所屬類別：分析儀器 > 質譜儀器

技術指標

採樣頻率25.6KHz，解析度不低於1280x800 pix，動態範圍12bit，ISO最高100000，記憶體72GB。

主要功能

二維PIV軟體分析具備多格線疊代可變形視窗查詢算法，自適應算法，三維PIV軟體分析具備自標定能力和層析空間重構的測量和分析功能。