微尺度粒子成像測速系統是一種用於力學領域的工藝試驗儀器，於2017年2月21日啟用。
基本介紹
- 中文名：微尺度粒子成像測速系統
- 產地：美國
- 學科領域：力學
- 啟用日期：2017年2月21日
- 所屬類別：工藝試驗儀器 > 電子工藝實驗設備
技術指標,主要功能,
技術指標
最高時間解析度可達25000Hz。主要技術指標如下：1）放大倍率：5X，20X，40X；2）工作方式：連續雷射或脈衝雷射照明；3）最大成像頻率：大於20Kfps@1M像素；4）激發光入射方式：光纖耦合。
主要功能
Micro PIV系統以高速相機獲得具備時間分辨能力的微尺度流場測量能力，利用螢光顯微鏡對被測區域進行放大，並利用螢光顯微鏡功能，消除照明本底光對被測信號的干擾，實現清晰成像。被側區域的大小取決於顯微物鏡的倍率，本系統配置了5X、20X和40X三組物鏡，可實現從百微米到10微米級的微尺度測量能力。
