MIT耐折度儀是專門測定厚度1mm以下的紙張、紙板及其他片狀材料（電子行業銅箔片等）耐摺疊疲勞強度的專用儀器。
杭州品享科技有限公司--MIT耐折度儀
杭州品享科技有限公司--MIT耐折度儀PN-NZ135耐折度儀[MIT Folding Endreanc tester]專業生產
原理和功能簡介:
1. MIT耐折度儀是專門測定厚度1mm以下的紙張、紙板及其他片狀材料（電子行業銅箔片等）耐摺疊疲勞強度的專用儀器。
1. MIT耐折度儀是專門測定厚度1mm以下的紙張、紙板及其他片狀材料（電子行業銅箔片等）耐摺疊疲勞強度的專用儀器。
2. 本儀器的電腦測控系統採用以單片微型計算機為核心的數字電路，通過液晶中文顯示操作提示和面板鍵入指令，實現了簡便的人機對話功能，具有技術先進、功能齊全、性能可靠、操作方便等優點，是造紙、包裝、科研及產品質量監督檢驗等行業和部門理想的試驗設備。
3.PN-NZ135型 MIT耐折度儀是我公司按國家標準GB/T 2679.5-1995（紙和紙板耐折度的測定）研究開發的一種新型儀器。儀器具有標準中包含的各項參數測試、轉換、調節、顯示、記憶、列印，具有數據處理功能，可直接得出各項數據的統計結果。儀器結構緊湊、體積小、重量輕、功能全、臥台式放置、操作方便、性能穩定，適用於各種紙和紙板耐折度的測定。
儀器可實時顯示雙摺次數，實驗完畢後，記錄折斷時的次數，按“次數/對數”鍵，顯示相應的對數值，按“統計”鍵，顯示標準偏差和變異係數。按“列印”鍵，可列印出統計報告。
執行標準:
主要技術指標和性能參數符合ISO5626和GB2679·5的有關規定。
儀器可實時顯示雙摺次數，實驗完畢後，記錄折斷時的次數，按“次數/對數”鍵，顯示相應的對數值，按“統計”鍵，顯示標準偏差和變異係數。按“列印”鍵，可列印出統計報告。
執行標準:
主要技術指標和性能參數符合ISO5626和GB2679·5的有關規定。
工作環境條件
室溫：20℃±10℃；
電源：220V±22V，50Hz，5A，電源應可靠接地；
工作環境清潔，無強磁場強震動源，工作檯平整穩固。
產品特點:
1. 全電腦控制技術，開放式光機電一體化結構，自動化程式高，操作簡單方便、安全可靠。
2. 全自動測量，智慧型判斷功能；
3. 儀器採用光電控制技術能使摺疊夾頭在每次實驗後自動歸位，方便了下一次的操作。
4. 自動測量、統計、列印測試結果，並具有數據保存功能；
5. 機電一體化現代設計理念，結構緊湊，外觀美觀大方，維修方便；
6. 本儀器配有標準RS232接口，可配合微機軟體進行通訊。（軟體另購）
技術參數:
1. 電 源：AC220±10%，50Hz，2A
2. 測量範圍：0～99999次。
3. 摺疊角度135±2°，摺疊速度175±10次/min。
4. 摺疊頭寬度為19±1mm，折口半徑0.38±0.02mm。
5. 彈簧張力4.91～14.72N，每加9.81N的張力，彈簧壓縮至少17mm。
6. 摺疊口夾縫的距離為0.25，0.50，0.75，1.00mm。
7. 摺疊夾頭旋轉偏心引起的張力變化不大於0.343N。
8. 環境條件： 溫度20～40℃、相對濕度<85%
9. 外形尺寸： 長×寬×高= 310 X 360 X 420 mm
10. 重 量： 25 kg
溫馨提示：杭州品享科技----生產印刷檢測設備的專家。長期現貨供應！歡迎光臨現場指導考查！
室溫：20℃±10℃；
電源：220V±22V，50Hz，5A，電源應可靠接地；
工作環境清潔，無強磁場強震動源，工作檯平整穩固。
產品特點:
1. 全電腦控制技術，開放式光機電一體化結構，自動化程式高，操作簡單方便、安全可靠。
2. 全自動測量，智慧型判斷功能；
3. 儀器採用光電控制技術能使摺疊夾頭在每次實驗後自動歸位，方便了下一次的操作。
4. 自動測量、統計、列印測試結果，並具有數據保存功能；
5. 機電一體化現代設計理念，結構緊湊，外觀美觀大方，維修方便；
6. 本儀器配有標準RS232接口，可配合微機軟體進行通訊。（軟體另購）
技術參數:
1. 電 源：AC220±10%，50Hz，2A
2. 測量範圍：0～99999次。
3. 摺疊角度135±2°，摺疊速度175±10次/min。
4. 摺疊頭寬度為19±1mm，折口半徑0.38±0.02mm。
5. 彈簧張力4.91～14.72N，每加9.81N的張力，彈簧壓縮至少17mm。
6. 摺疊口夾縫的距離為0.25，0.50，0.75，1.00mm。
7. 摺疊夾頭旋轉偏心引起的張力變化不大於0.343N。
8. 環境條件： 溫度20～40℃、相對濕度<85%
9. 外形尺寸： 長×寬×高= 310 X 360 X 420 mm
10. 重 量： 25 kg
溫馨提示：杭州品享科技----生產印刷檢測設備的專家。長期現貨供應！歡迎光臨現場指導考查！
