本標準所涉及的低溫試驗適用於非散熱和散熱兩類試驗樣品。對於非散熱試驗樣品，試驗Aa和Ab不違背早期發行的標準。本標準僅限於用來考核或確定電工、電子產品（包括件、設備及其他產品）在低溫環境條件下貯存和（或）使用的適應性。這一低溫試驗不能用來評價試驗樣品對溫度變化的耐抗性和在溫度變化期間的工作能力，在這種情況下，應當採用試驗N:溫度變化試驗方法。低溫試驗方法分為以下三類：非散熱試驗樣品低溫試驗：——試驗Aa:溫度突變——試驗Ab:溫度漸變散熱試驗樣品低溫試驗：——試驗Ad:溫度漸變本試驗方法通常用於條件試驗期間能達到溫度穩定的試驗樣品。試驗持續時間是從試驗樣品溫度達到穩定時開始計算的。在特殊情況下，如果條件試驗期間試驗樣品達不到溫度穩定，則試驗持續時間從試驗箱（室）達到規定試驗溫度時開始計算。相關規範應規定：a)試驗箱（室）內溫度變化速率；b)試驗樣品放入試驗箱（室）的時間；c)試驗樣品在試驗條件下暴露試驗開始的時間；d)試驗樣品通電或加負載的時間。在這些條件下，相關規範的制定者可根據GB/T2424.1-1989導則選定以上4個參數（以上條件下的修訂正在考慮之中）。
基本介紹
- 中文名：電工電子產品環境試驗 第2部分：試驗方法 試驗A：低溫
- 外文名：Environmental testing for electric and electronic and electronic products--Part 2:Test methods--Tests A:Cold
- 標準編號：GB/T 2423.1-2001
- 發布部門：國家質量監督檢驗檢疫總局
- 發布日期：2001-07-12
- 實施日期：2001-12-01
- 首發日期：1981-08-10
- 提出單位：國家機械工業局
- 主管部門：中國電器工業協會
- 起草單位：廣州電器科學研究所
- 開本：平裝16開
- 頁數：23
- 字數：40千字
- 出 版 社：中國標準出版社
- 出版日期：2001-11-01
- 標準狀態：已作廢
- 替代情況：被GB/T 2423.1-2008代替
目次,前言,引言,第一篇 試驗Aa,第二篇 試驗Ab,第三篇 試驗Ad,
IEC前言
試驗A：低溫試驗的歷史概況
試驗A：低溫與實驗B：乾熱下標字母之間的關係
1 概述
2 引用標準
3 非散熱試驗樣品與散熱試驗樣品實驗方法套用對比
4 非散熱試驗樣品：溫度突變試驗和溫度漸變試驗套用對比
5 散熱試驗樣品：有或無強迫空氣循環的試驗
6 圖解
非散熱試驗樣品溫度突變的低溫試驗
1 目的
2 一般說明
3 試驗設備
4 嚴酷等級
5 預處理
6 初始檢測
7 條件試驗
8 中間檢測
9 恢復
10 最後檢測
11 相關規範給出的信息
12 目的
13 一般說明
14 試驗設備
15 嚴酷等級
16 預處理
17 初始檢測
18 條件試驗
19 中間檢測
20 恢復
21 最後檢測
22 相關規範給出的信息
23 目的
24 一般說明
25 試驗設備
26 嚴酷等級
27 預處理
28 初始檢測
29 條件試驗
30 中間檢測
31 恢復
32 最後檢測
33 相關規範給出的信息
附錄A（標準的附錄） 環境溫度校準計算圖
附錄B（標準的附錄） 試驗Ad方法A：有強迫空氣循環試驗溫度狀態的圖示
附錄C（標準的附錄） 試驗Ad方法B：有強迫空氣循環試驗溫度狀態的圖示
附錄D（提示的附錄） 試驗Ad（29.1.2）中方法A簡要流程圖
附錄D（提示的附錄） 試驗Ad（29.1.2）中方法B簡要流程圖
