高壓原位紅外光譜儀是一種用於化學領域的分析儀器，於2015年11月13日啟用。
基本介紹
- 中文名：高壓原位紅外光譜儀
- 產地：美國
- 學科領域：化學
- 啟用日期：2015年11月13日
- 所屬類別：分析儀器 > 光譜儀器 > 紅外光譜儀
技術指標,主要功能,
技術指標
1)光譜範圍： 350cm-1-7800cm-1。 2)全光譜線性準確度：優於0.07%T。（ASTM E1421 標準方法檢測）。 3)靈敏度：峰-峰噪聲值信噪比: 5秒鐘掃描優於13000:1；1分鐘掃描優於55000:1；（4 cm-1解析度檢測）噪聲峰-峰值小於7.89´10-6Abs。 4)解析度：優於0.09cm-1，自動200檔精度的連續可變自動控制光欄。 5)穩定性：具有每秒60張譜圖以上快速掃描性能。 6)干涉儀：無摩擦電磁驅動平面鏡干涉儀，配置三維雷射控制系統，具有自動調整和每秒10萬次以上高速掃描動態準直控制功能。 7)檢測器：主機同時配置1個高性能DLATGS中紅外檢測器和一個MCT檢測器，配有無冰霜和無液氮器件保護功能。 8)乾燥密封系統：光學台配置濕度指示，樣品倉兩側配備防霧化鍍層的紅外透射密封窗片。 9)原位漫反射:溫度從室外-900度，壓力最大1500Psi. 包括KBr窗片和ZnSe 窗(各1套)。 10)真空度：真空分子泵附屬檔案，5×10-4Pa 11）原位衰減全反射(ATR)：溫度從室外-200度，壓力最大3000Psi，ZnSe 窗片，可攪拌進行。
主要功能
1、可進行常規的紅外光譜測試，如固體、液體樣品的透過、吸收、漫反射； 2、可進行常壓、室溫至900度下CO等氣氛中固體樣品的漫反射； 3、可進行抽真空、室溫至900度下CO等氣氛中固體樣品的漫反射； 4、可進行高壓條件（1500 Psi）、室溫至900度下CO等氣氛中固體樣品的漫反射； 5、可進行常壓至高壓（3000 Psi）、室溫至200度下通過衰減全反射原位測試反應過程中組份的變化。
