高分辨三維顯微鏡是一種用於物理學領域的分析儀器，於2016年05月20日啟用。
基本介紹
- 中文名：高分辨三維顯微鏡
- 產地：日本
- 學科領域：物理學
- 啟用日期：2016年05月20日
- 所屬類別：分析儀器 > 顯微鏡及圖象分析儀器 > 光學顯微鏡
技術指標,主要功能,
技術指標
Z軸解析度 0.5nm。
主要功能
顯微成像。
高分辨三維顯微鏡
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