基本介紹
- 中文名：顯微鏡粒度分析法
- 外文名：microscopic sizing
- 學科：礦石選冶試驗
- 釋文：顯微鏡直接測定顆粒尺寸和形狀
詞目：顯微鏡粒度分析法
釋文：用顯微鏡直接測定顆粒尺寸和形狀，用於檢查選別產品或校正水析結果以及研究礦石的結構構造的方法。適於分析微細物料，最佳測量範圍為0.5～20微米之間。
詞目:顯微鏡粒度分析法 釋文:用顯微鏡直接測定顆粒尺寸和形狀,用於檢查選別產品或校正水析結果以及研究礦石的結構構造的方法。適於分析微細物料,最佳測量範圍為0.5...
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《粒度分析 圖像分析法(第1部分):靜態圖像分析法(GB/T 21649.1-2008)》主要修改內容如下:在附錄B中增加了兩檔放大倍率,使測量範圍拓展到納米級。4.2條制樣...
粒徑方法 雷射法、沉降法、光子交叉相關光譜法、篩分法、顯微鏡法、超聲粒度分析法、X射線小角衍射法等。 [3] 詞條圖冊 更多圖冊 ...
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粒度組成又稱粒度級配,指構成物料的各種組粒的含量,通常以百分數來表示。粒度組成的測定方法較多。如沉降法、篩析、雷射分析法等。...
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粉塵粒度分析儀採用斯托克斯原理和比爾定律測定粉塵粒度分布(分散度)。與常規方法相比省去天平稱重和顯微鏡數數等繁雜工作。讀數直觀,測定結果自動儲存,也可由用戶根據...
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