雷射跟蹤系統

雷射跟蹤系統是一種用於材料科學領域的分析儀器，於2014年10月31日啟用。

基本介紹

• 中文名：雷射跟蹤系統
• 產地：德國
• 學科領域：材料科學
• 啟用日期：2014年10月31日
• 所屬類別：分析儀器

技術指標

旋轉角精度：0.01度； 定位精度：15+6μm/m； 測量範圍：角度測量俯仰±45度；角擺：±45度；自轉：360度； 距離測量範圍：18m； 跟蹤速度（各方向）：1m/s；跟蹤加速度（各方向）：1g。

主要功能

工業測量系統中一種高精度的大尺寸測量儀器，具有高精度、高效率、實時跟蹤測量、安裝快捷、操作簡便等特點，適合於大尺寸工件配裝...。