雷射跟蹤儀測試系統是一種用於信息與系統科學相關工程與技術、機械工程領域的計量儀器，於2010年9月13日啟用。
基本介紹
- 中文名：雷射跟蹤儀測試系統
- 產地：新加坡
- 學科領域：信息與系統科學相關工程與技術、機械工程
- 啟用日期：2010年9月13日
- 所屬類別：計量儀器 > 長度計量儀器 > 雷射跟蹤儀
技術指標,主要功能,
技術指標
測量規格： 角編碼器（橫向）： 水平範圍：±270° 垂直範圍：+75°至-50° 最大角測量速率108°/秒 ADM（徑向） 採樣率為每秒10，000各樣品 解析度0.5微米 工作範圍： 最小工作範圍0米 最大工作範圍：55m,選擇性目標 40m標準1.5″與7/8″SMR 30m標準1/2″SMR 可選的干擾儀 最大徑向速率4米/秒 解析度0.158微米 水平面 精確度+/-2弧秒 數據採集 系統採樣率為每秒1,000個樣品 點採集率為每秒350個點。
主要功能
法如雷射跟蹤儀ION可以精確完成在不同行業各種套用下的測量任務。它改進了空間三坐標的測量方法，使新的製造方法成為可能。 定位 1、比傳統方法更精確和減少時間 2、高頻率的測量方法，正確的形變趨勢 3、實時測量確保公差和設計的有效性 安裝 1、機器底座的布局/校平 2、阻止機器開啟運行的損耗 3、減少機器部件的損壞 零件檢測 1、實際數據和標稱數據的對比性數字記錄 2、勿需移動部件至一個固定的測量工具處 3、減少生產浪費和不合格件成本 工具構建 1、完全空間精度測試（保證零部件以最高標準精確安裝） 2。
