雷射共聚焦顯微分析系統

雷射共聚焦顯微分析系統

雷射共聚焦顯微分析系統是一種用於材料科學領域的分析儀器,於2013年12月24日啟用。

基本介紹

  • 中文名:雷射共聚焦顯微分析系統
  • 產地:德國
  • 學科領域:材料科學
  • 啟用日期:2013年12月24日
  • 所屬類別:分析儀器 > 顯微鏡及圖象分析儀器 > 雷射共焦顯微鏡
技術指標,主要功能,

技術指標

1、鏡體:Axio Scope 、Axio Imager、Axio Observer 2、雷射器:半導體雷射器405、445、488、555、639nm,所有雷射器強度可調,不使用時自動 關閉。 3、觀察方式:明場、暗場、偏光、微分干涉、螢光 4、分析通道:反射光、透射光、螢光通道 5、PMT探測器:光譜精度為1nm 6、變焦比:0.5x-40x,步進精度0.1 7、掃描解析度:4x1-2048x2048連續可調 8、Z軸解析度:10nm 9、掃描視。

主要功能

觀察材料表面三維形貌。

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