雷射共聚焦顯微拉曼光譜儀-AFM聯用系統

雷射共聚焦顯微拉曼光譜儀-AFM聯用系統是一種用於數學領域的分析儀器，於2017年12月26日啟用。

基本介紹

• 中文名：雷射共聚焦顯微拉曼光譜儀-AFM聯用系統
• 產地：日本
• 學科領域：數學
• 啟用日期：2017年12月26日
• 所屬類別：分析儀器 > 電子光學儀器 > 電子能譜儀

技術指標

1、光譜範圍：200-2100 nm 2、焦長：800 mm 3、光譜儀：光譜色散平場輸出，可使用大尺寸CCD探測器 4、雷射功率控制：多級雷射功率衰減片 5、探測器：研究級大晶片尺寸空冷CCD。

主要功能

用於化合物中化學鍵的鑑定，判定晶體結構。