透視電鏡檢查

透視電子顯微鏡（簡稱透射電鏡）檢查（transmission electron microscope examination，TEM）通過電子束穿透細胞和組織，從而可以觀察細胞內的超微結構。其放大倍數更大，真空要求也更高。透射電子顯微鏡可以看到在光學顯微鏡下無法看清的小於0.2nm的亞顯微結構或超微結構。電子顯微鏡技術的套用是建立在光學顯微鏡的基礎之上的，光學顯微鏡的解析度為0.2μm，透射電子顯微鏡的解析度為0.2nm，也就是說透射電子顯微鏡在光學顯微鏡的基礎上放大了1000倍。

基本介紹

• 中文名：透視電鏡檢查
• 外文名：transmission electron microscope examination，TEM
• 簡稱：透射電鏡

原理

透射電鏡的總體工作原理是：由電子槍發射出來的電子束，在真空通道中沿著鏡體光軸穿越聚光鏡，通過聚光鏡將之會聚成一束尖細、明亮而又均勻的光斑，照射在樣品室內的樣品上；透過樣品後的電子束攜帶有樣品內部的結構信息，樣品內緻密處透過的電子量少，稀疏處透過的電子量多；經過物鏡的會聚調焦和初級放大後，電子束進入下一級的中間透鏡和第1、第2投影鏡進行綜合放大成像，最終被放大了的電子影像投射在觀察室內的螢光屏板上；螢光屏將電子影像轉化為可見光影像以供使用者觀察。電子顯微鏡的放大倍數最高可達近百萬倍、由電子照明系統、電磁透鏡成像系統、真空系統、記錄系統、電源系統等5部分構成。
簡言之，透射電鏡的電子束通過樣品後由物鏡成像於中間鏡上，再通過中間鏡和投影鏡逐級放大，成像於螢光屏或照相干版上，分辨細微物質結構；能在看到表面的圖像的同時也看到內層物質。
用於透視電鏡檢查的標本必須製成50～100nm的超薄切片。常用的切片方法有：超薄切片法、冷凍超薄切片法、冷凍蝕刻法、冷凍斷裂法等。對於液體樣品，通常是掛預處理過的銅網上進行觀察。

套用

透射電子顯微鏡在材料、地質、生物學領域套用較多。透射電子纖維鏡常用於植物、動物和其他生物樣品的超微結構的觀察。