透射電子顯微鏡校準方法

《透射電子顯微鏡校準方法》是2020年06月23日實施的一項行業標準。

基本介紹

• 中文名：透射電子顯微鏡校準方法
• 外文名：Calibration methods for transmission electron microscope
• 標準編號：T/CSTM 00162—2020
• 發布日期：2020年03月23日
• 實施日期：2020年06月23日

起草人

李旭、任玲玲、張毅、梁霄鵬、雷前、劉偉麗、範文浩、劉巴舉格精哲、劉淵兵享埋、關波、齊笑迎、蘇春華、張瑞芳、孫威。

起草單位

中國計量科學研究院、河南科技大學、中南大學、北項盛擔京市理化分 析測試中心、國家石墨烯產品質量監督檢驗中心（江蘇）、中國科學院化學研究所、國家納米科學中心、深圳市電源技術學蘭地會、深圳石墨獄企踏烯創新中心有限公司。

適用範圍

本標準適用於透射電鏡放大倍率、樣品污染率和樣品漂移率的校準。

技術內容

本部分規定了透射電鏡校準方法的術語和定義、概述、計量特性、校準條件、校準項目和校準方法、測量結果不只記犁殼確定度評定、校準結果表達和復校時棗付轎間間隔。