單色球差校正掃描透射電子顯微鏡是一種用於物理學、材料科學領域的分析儀器，於2019年6月28日啟用。
基本介紹
- 中文名：單色球差校正掃描透射電子顯微鏡
- 產地：美國
- 學科領域：物理學、材料科學
- 啟用日期：2019年6月28日
- 所屬類別：分析儀器 > 電子光學儀器 > 透射電鏡
技術指標,主要功能,
技術指標
空間解析度：0.1nm@100kV, 0.13nm@60kV和30kV；譜學能量解析度：10meV@100kV, 8meV@60kV和30kV；電子槍亮度：相干電流≥200pA； 樣品室真空度：＜4X10-7Pa; 電子槍真空度： ＜4X10-9Pa。
主要功能
主要功能是在原子級的高空間解析度以及單原子的分析靈敏度下對功能材料樣品的原子排布結構、化學成分、化學鍵合、化學價態、電子結構、光學特性、磁性以及晶格振動進行全面深入的測試分析，是凝聚態物理以及材料科學前沿研究不可或缺的實驗平台。其空間解析度達到亞埃尺度，可以對材料中的原子進行清晰成像；其能量解析度達到8毫電子伏(meV)，能開展高精度電子能量損失譜研究。
