基本介紹
- 書名:透射電子顯微鏡選區電子衍射分析方法
- 作者:中華人民共和國國家質量監督檢驗檢疫總局
- 出版日期:2003年4月1日
- 語種:簡體中文
- ISBN:155066119336
- 外文名:Method of Selected Area Electron Diffraction for Transmission Electron Microscopes
- 出版社:中國標準出版社
- 頁數:12頁
- 開本:16
- 品牌:北京勁松建達科技圖書有限公司
內容簡介
圖書目錄
1範圍
2原理
3儀器設備
4試樣
5參照樣品
6試驗方法
6.1儀器準備
6.2選區電子衍射譜的獲得
6.3衍射常數Lλ的測定
7衍射譜的測量與計算
附錄A(規範性附錄)純金與純鋁的晶面間距表
附錄B(規範性附錄)單晶體的標準衍射譜
B.1面心立方晶體的低指數晶帶衍射譜
B.2體心立方晶體的低指數晶帶衍射譜
B.3密排六方晶體的低指數晶帶衍射譜
參考文獻