近紅外探測系統

近紅外探測系統是一種用於化學領域的分析儀器,於2007年6月1日啟用。

基本介紹

  • 中文名:近紅外探測系統
  • 產地:美國
  • 學科領域:化學
  • 啟用日期:2007年6月1日
  • 所屬類別:分析儀器 > 光譜儀器 > 紅外光譜儀
技術指標,主要功能,

技術指標

檢測波長範圍:800-2500nm;解析度:4cm-1。

主要功能

主要用於各種樣品的近紅外光譜測試。

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