近紅外時間分辨螢光測量系統

近紅外時間分辨螢光測量系統是一種用於物理學領域的科學儀器，於2013年9月13日啟用。

基本介紹

• 中文名：近紅外時間分辨螢光測量系統
• 產地：德國
• 學科領域：物理學
• 啟用日期：2013年9月13日

技術指標

（1）探測波長範圍950-1700nm;(2)量子效率典型值2%；（3）TTS回響時間400ps;(4)控制器部分包含高電壓電源模組;(5)外部預放大功能。

主要功能

測量發光材料的躍遷衰減時間。