負偏置溫度不穩定性（英語：Negative-biastemperatureinstability,NBTI）是影響金屬氧化物半導體場效應管可靠性的一個重要問題，它主要表現為閾值電壓的偏移。
基本介紹
- 中文名：負偏置溫度不穩定性
- 定義：影響金屬氧化物半導體場效應管可靠性的重要問題
負偏置溫度不穩定性（英語：Negative-biastemperatureinstability,NBTI）是影響金屬氧化物半導體場效應管可靠性的一個重要問題，它主要表現為閾值電壓的偏移。
負偏置溫度不穩定性（英語：Negative-biastemperatureinstability,NBTI）是影響金屬氧化物半導體場效應管可靠性的一個重要問題，它主要表現為閾值電壓的偏移。...
《納米數字積體電路老化效應、分析預測及最佳化》是2012年6月清華大學出版社出版的圖書，作者是靳松、韓銀和。內容簡介 本書的主要內容涉及一種公認的納米工藝下較為嚴重的電晶體老化效應--負偏置溫度不穩定性（NBTI） 。介紹了NBTI效應...
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（11） 伽馬射線輻照後的90nm和65nm P型場效應電晶體的負偏置溫度不穩定性研究, Negative bias temperature instability on γ ray irradiated 90nm and 65nm PMOSFET, Conference on Radiation Effects on Components and Systems (...