被測器件

被測器件（DUT），也稱為被測設備（EUT）和被測單元（UUT），是在首次製造時或在其生命周期後期進行測試的製造產品，作為正在進行的功能測試和校準的一部分檢查。 這可以包括修復後的測試，以確定產品是否按照原始產品規格執行。

基本介紹

• 中文名：被測器件
• 外文名：Device under test
• 別稱：被測設備和被測單元

半導體測試

在半導體測試中，DUT表示晶圓或最終封裝部件上的特定管芯小片。利用連線系統將封裝部件連線到手動或自動測試設備（ATE），ATE會為其施加電源，提供模擬信號，然後測量和估計器件得到的輸出，以這種方式測定特定被測器件的好壞。

對於晶圓來說，使用者需要將ATE用一組顯微針連線到一個個獨立的DUT（晶圓小片）。若晶圓已被切割成小片並封裝，我們可以用ZIF插座（零插拔力插座）將ATE連線到DUT（管殼）上。

常規電子測試

更多的情況下，DUT用於表示任何被測電子裝置。例如，裝配線下線的手機中的每一晶片都會被測試，而手機整機會以同樣的方式進行最終的測試，這裡的每一部手機都可以被稱作DUT。

DUT常以測試針組成的針床測試台連線到ATE。