電路板故障檢測儀也稱作線上電路維修測試儀和電路維修測試儀，是一種通用型電路板故障檢測設備。缺乏圖紙資料和不懂電路原理是電路板維修中的難題，電路板故障檢測儀的特點是：逐個測試電路板上的元器件，將不同電路板等效為標準電子元器件的不同組合。可以避開電路原理分析，直接將電路板故障定位到集成IC、分立元件或電路結點上。
基本介紹
- 中文名：電路板故障檢測儀
- 外文名：Circuit Board Fault Tester
- 功 能：檢測電路板和元器件故障
產品綜述,主要功能,技術指標,
產品綜述
電路板故障檢測儀在使用過程中需要和計算機連線，並安裝測試軟體。被測電路板處於脫機狀態，測試過程中通過電路板故障檢測儀為電路板施加測試信號和工作電源。
電路板故障檢測儀具有通用型數字/模擬集成IC器件庫，可以進行集成IC線上功能測試。所謂“線上”是指：被測集成IC無須從電路板上拆卸下來，採用IC測試夾逐個夾取集成IC進行測試。從電路板故障檢測儀引出的測試排纜可以安裝多種規格IC測試夾，主要規格有：DIP封裝（管腳中心距2.54mm），SOP封裝（管腳中心距1.27mm），PLCC封裝（管腳中心距1.27mm）等。測試排纜也能夠連線多種規格測試插座，測試插座的規格多於IC測試夾。例如還包括：SDIP封裝（管腳中心距1.778mm），SSOP封裝（管腳中心距0.65mm），QFP封裝（管腳中心距0.65mm），TSSOP封裝（管腳中心距0.5mm）等，對集成IC進行離線測試和性能篩選。
電路板故障檢測儀主要具有兩種類型測試方法，分別為：1.集成IC功能測試。2.VI曲線測試。
1.集成IC功能測試：
電路板故障檢測儀對集成IC功能測試的過程是：以集成IC器件庫為基礎，在被測集成IC各個輸入管腳施加測試信號，提取集成IC輸出信號，與理論值進行比較。當比較結果一致時，被測試集成IC功能正確。不一致時，被測試集成IC功能不正確。
測試軟體中具有通用型集成IC器件庫，例如：數字集成IC中的74系列、4000系列等，模擬集成IC中的運放系列、電壓比較器系列、模擬開關係列等。AD模數轉換器和DA數模轉換器等系列也出現在新型電路板故障檢測儀器件庫中，並且可以對數字/模擬集成IC進行動態性能測試。
如果集成IC型號被打磨掉或標識不清，只要集成IC存在於器件庫中並且功能完好，輸入集成IC管腳數並循環施加測試信號和理論值比對，可以識別集成IC的器件型號。
2.VI曲線測試：
對於超出器件庫範圍的集成IC以及電晶體和阻容器件等，可以採用VI曲線測試。
線上路兩結點之間注入一個一定幅度和頻率的周期信號，從而在顯示坐標上形成一條電流隨電壓變化的函式曲線。即：VI曲線。VI曲線的形狀由被測結點之間的阻抗特性所決定。元器件故障常會伴隨管腳之間阻抗特性的改變。通過比較好壞電路板（或器件）上相同結點之間的VI曲線，可以發現阻抗特性發生改變的結點，從而確定故障元器件。直接觀察或兩者對比VI曲線的過程稱作VI曲線測試。由於單坐標系下VI曲線測試存在盲區，可以採用5坐標系的5cVI曲線，能夠消除VI曲線測試盲區問題。
VI曲線測試支持IC測試夾、測試插座、測試表筆等方式，使用操作比較靈活。電路板故障檢測儀可以將好電路板上元器件或電路結點的VI曲線信息存儲在計算機中，用於維修時的對比測試。由於VI曲線測試不屬於器件功能測試，因此不受集成IC器件庫的限制。
電路板故障檢測儀除了集成IC功能測試和VI曲線測試外，還具有元器件專項測試。例如：光耦、電容、電晶體等專項測試。對部分元器件能夠進行參數測試。有些電路板故障檢測儀集成計算機、示波器和邏輯分析儀等功能測試模組，構成一個綜合檢測系統。
電路板故障檢測儀已廣泛套用於電路板維修與元器件檢測領域，例如：航空航天、軍事裝備、通信醫療、鐵路造船、冶金石化、紡織印刷等行業，起到了示波器、萬用表等傳統檢測工具無法替代的作用。
主要功能
01.數字IC線上功能/性能測試
1.1）>40管腳+5V系列：包括74FCT16460（56pin）,74ACT16254（64pin）等數百種。
1.2）>40管腳+3.3V系列：包括74ALB16245（48pin）,74ALVCH16832（64pin）等數百種。
1.3）普通+5V/+3.3V系列：包括TTL74/54,CMOS40/45,驅動器,8000,9000,+3.3V器件庫,俄羅斯庫,西門子庫等數萬種器件。
1.4）雙板功能測試：直接對比兩塊電路板上相同位置數字IC功能/動態性能。
1.5）離線測試：多邏輯電平數字IC測試。
02.集成IC第三狀態TST方案
2.1）數字IC：測試數字IC動態性能，準確區分相同功能數字器件的速度差異。
2.2）模擬IC：測試光耦器件動態性能。
2.3）頻率自動搜尋：系統自動以集成IC最高測試頻率完成測試，並顯示測試頻率。
03.DA數模轉換器功能測試
離線功能測試，DA器件庫中數百種器件。
04.AD模數轉換器功能測試
離線功能測試，AD器件庫中數百種器件。
05.集成IC器件參數值測試
5.1）集成運放：測試運放電壓輸出峰值參數，區別類別差異和個體差異。
5.2）電壓比較器：測試比較器電壓輸出峰值參數，區別類別差異和個體差異。
5.3）光耦：測試光耦輸入導通電壓Vf,輸入反向電流Ir,輸出飽和壓降Vces,電流轉換比CTR等具體參數值。
5.4）穩壓器件：78/79以及T1083,LT1084,LT1085,LT1086等系列，測試電壓輸出值。
06.VI曲線測試
6.1）160路VI曲線學習/存儲/比較：測試夾、探棒、離線測試板（雙列/單列/方形/圓形/高密度插座/插針）等測試方式。
6.2）5cVI曲線鷹爪5線測試法：5條5種色彩VI曲線（5種坐標系疊加）單結點測試或者10條5種色彩VI曲線（5種坐標系疊加）雙結點對比測試，消除VI曲線測試盲區。
6.3）單/多連線埠VI曲線測試：對集成IC採取單連線埠或多連線埠測試方式；單連線埠測試方式是每個管腳對地提取VI曲線，而多連線埠是以任一腳做參考提取VI曲線。
6.4）結點類型調整VI曲線靈敏度：類似自動相機的拍攝模式，無需手動無序調節。
6.5）阻抗中值調整VI曲線靈敏度：阻抗中值100Ω/1kΩ/10kΩ/100kΩ/470kΩ可選。
6.6）VI曲線解析度：最高512點/周期。
6.7）VI曲線定時測試：連續存儲240個測試點。建庫/比較全程由聲音提示。
6.8）VI曲線智慧型存儲：任意設定起始管腳和結束管腳。支持多次退出再進入。
6.9）5cVI曲線探棒雙視窗測試：兩個測試視窗，支持兩個人同時各自測試。
6.10）VI曲線高速提取：多連線埠交叉掃描1600條 VI曲線少於10秒。
6.11）VI曲線智慧型提醒：如果VI曲線超差，計算機喇叭產生類似萬用表Beep聲效。
6.12）VI曲線測試參數：可根據具體器件的測試需要，給不同管腳設定不同的測試參數。
6.13）VI曲線定位查找：提供快速定位/查找選項。
6.14）疑難VI曲線識別：增強對不穩定疑難VI曲線有效識別的判斷水平。
6.15）VI曲線參數量化：VI曲線測試值自動保存,且能夠直接編輯或瀏覽。
6.16）VI曲線雙板測試：使用雙路IC測試夾對兩塊相同電路板對比VI曲線。
07.運算放大器功能測試
使用模擬信號測試運放線上性放大區（通過TV曲線）和非線性放大區（通過28路模擬功能測試通道）工作特性，有獨立的器件庫，包含LM324,LF444等總計5000多種。
08.電壓比較器功能測試
測試各類型電壓比較器，如：LM339,ALD4303等，可根據電壓比較器線上連線自動調整測試代碼。電壓比較器器件庫數百種。
09.±12V雙極性電源高壓接口器件功能測試
包括232接口MAX232（TTL↔12V）,MC1488（TTL→12V）,MC1489（TTL←12V）等百餘種雙極性電源供電器件。
10.±12V雙極性電源高性能模擬開關器件功能測試
包括AD7510,DG211,NJU7301等雙極性電源以及邏輯電源等三組電源同時供電的高性能模擬開關器件百餘種。
11.LSI大規模積體電路功能測試
包括8255,8237等典型LSI大規模器件，採用矢量分析技術功能測試。
12.>40管腳PLCC封裝（方形）LSI大規模積體電路功能測試
包括PC8250A,Z80CPU等典型PLCC封裝LSI大規模器件，採用矢量分析技術測試。
13.40管腳LSI雙板功能測試
80路數字測試通道作保障，可同時對兩塊電路板上相同位置的LSI器件進行線上功能測試。
14.集成IC線上狀態測試
能夠提取電路線上狀態，如開路、邏輯翻轉信號、非法電平、匯流排競爭等等狀態等。
15.光耦合動態性能測試
區分光耦器件工作速度和動態性能。
16.三端器件測試
16.1）三極體(NPN型/PNP型)階梯波形10線輸出測試：雙象限測試，直觀顯示截止區/放大區/飽和區功能特性。
16.2）場效應管(增強型/耗盡型)階梯波形10線輸出測試：雙象限測試，直觀顯示不同區間的功能特性。
16.3）可控矽管(單向型/雙向型)階梯波形10線輸出測試：雙象限測試，直觀顯示不同區間的功能特性。
16.4）光耦器件階梯波形10線輸出測試：不受光耦器件庫限制。
16.5）繼電器(陽極控制/陰極控制)功能特性測試：自定義測試陽極/陰極控制的繼電器。
17.電容電感量值測試
測試電容的容量值及串並電阻，測試電感的電感量及串並電阻。
18.圖象建庫測試
對電路板或元器件照相併輸入計算機,可圖像中器件進行編輯和測試，而建立起整板和器件測試庫，適用於批量電路板維修。
19.互動測試平台
不依賴器件庫，按照器件的功能實現形式自定義測試。支持+5V,+3.3V供電數字器件，還可測試接口器件，AD/D器件，通信IC,各種專用集成IC等複雜器件。
20.超級反彙編
可將8031/51,8096/98,Z80,8086/8088等系列的二進制檔案反彙編成源碼檔案。
21.PLD器件操作
可對多個廠家PLD器件進行程式讀取、複製、清除、校驗、加密和空白檢查等操作。
22.疑難IC型號識別
通過VI曲線方式建立疑難IC（主要是模擬IC）系統庫，識別疑難IC型號。
23.測試夾信號收發
通過IC測試夾自定義施加40路數位訊號，通過測試夾採集20路數位訊號。
24.波形信號發生器
系統產生方波波形，幅度可調，頻率1Hz~5MHz可調，可產生多種組合頻率。
25.EPROM線上讀取/比較
比較各種規格EPROM數據，從EPROM中讀取的數據可直接用於超級反彙編。
26.電路板網路提取/網路比較
模擬方式、數字方式、模數混合方式提取電路網路連線，根據電路6種情況自動選擇提取方式，網路表數據可用於反演電路板PCB圖。
27.匯流排競爭信號隔離
用於解除匯流排競爭，確保正確測試掛在匯流排上的三態器件（如74LS373，74LS245等）。
28.數字IC型號識別
針對標識不清或被擦除型號的數字IC型號，可識別>40管腳的數字IC型號。
29.讀寫存儲器功能測試
直接檢測存儲器SRAM/DRAM晶片的好壞，有獨立器件庫，可線上/離線測試。
30.唯讀存儲器功能測試
可線上/離線學習/比較的測試EPROM中的程式,測試結果定位到存儲單元地址上。
31.測試閾值可調
閾值電平邏緝1或邏輯0除給出常用電平值外，還可選自定義。
32.測試夾接觸檢查
解決IC測試夾和被測器件接觸不良造成的測試誤判問題。
33.填表方式擴充模擬器件庫
以填表的方式定義模擬IC的管腳狀態：如：正輸入腳、負輸入腳、輸出腳、正電源腳、負電源腳、接地腳，以及其他狀態等。擴充器件庫。
34.編程方式擴充數字器件庫
採用專用的EXPAND編程擴庫語言，編程簡單，自適應技術完備，用戶可自行編寫並擴充數字器件測試程式。
35.元器件速查手冊
供用戶查閱元器件的名稱、管腳排列、封裝等信息。
36.維修日記
供記錄日常維修的經驗體會，發生的重要事情等。
37.後台操作記錄
自動記錄測試過程及測試結果等信息。
38.綜合離線測試板
離線測試板上涵蓋各種高密度插座，集成IC器件管腳中心間距0.5~2.54mm等規格。
39.自動施加上拉電阻
測試過程中可對OC門（或OD門）數字器件自動模擬施加上拉電阻，從而完成測試。
40.測試夾自動定位
測試夾可任意夾取器件，無需顧及方向性，使測試更加便捷。
41.電子辭典製作
採用所繪即所得方式，快速製作電子詞典和簡單電路圖。
42.安全保護功能
適應各種非正常的錯誤操作，出錯時機內蜂鳴器報警。
43.多任務/多視窗操作
所有操作界面和測試視窗位置挪動自動定位。多項測試功能操作可同時展開。
44.管理工具及輔助系統
密碼管理：避免無關人員使用；庫中器件檢索：快速查找所有庫中器件及測試方法。改變背景畫面/產生背景音樂：可在輕鬆的環境下維修；操作幫助系統：可隨時查閱正確的操作步驟和維修經驗；故障診斷系統：若系統主機出現硬體故障，可精確定位故障位置。
技術指標
01.作業系統：支持支持windows10(64位)作業系統，向下兼容。
02.測試軟體語言版本：2種。中文軟體/英文軟體。
03.測試軟體操作方式：4種。滑鼠操作/鍵盤操作/觸控螢幕操作/腳踏開關操作。
04.通訊接口：高速PCI接口/USB3.0接口。
05.測試夾通道：268路。
06.數字通道：80路。
07.數字通道電平：+3.3V,+5V,±12V通道。
08.數模功能通道：28路。
09.VI曲線通道：160路。
10.匯流排隔離通道：16路。
11.後驅動電流：≥360mA.
12.數字通道測試速度：1kHz~2000kHz,18檔可選。
13.數字器件的閾值電平：TTL,CMOS,驅動器緊/松調節,自定義調節。
14.程控外供電源：+5V/5A,+12V/2.5A,+3.3V/3A,-12V/2.5A,-5V/2A.
15.測試探棒：2組10個測試口。
16.模擬信號掃描電壓幅度：±1V~±28V，步距0.5V.
17.VI解析度：32~512點/周期。
18.輸出阻抗匹配：100Ω/1kΩ/10kΩ/100kΩ/470kΩ.
19.可程式通道：VI/模擬混合通道2路,模擬輸出6路,模擬輸入2路,綜合通道2路。
20.波形信號發生器：0.2µs~1s,調節精度0.1µs.
21.5cVI曲線雙視窗：2視窗。支持兩個人同時各自測試。
22.5cVI曲線清晰度：512點/周期高清顯示。
23.VI曲線定時測試：2種提示聲音模式。建庫/比較全程聲音提示。
24.VI曲線智慧型存儲：單器件可存儲240個點,自由設定,分段存儲/分段比較。
25.電容參數測試範圍：103~47000µF.
26.電路板網路測試通/斷閾值：15Ω±5Ω.
27.功能測試器件庫：>40管腳數字器件庫（+5V/+3.3V）,>40管腳PLCC封裝（方形）LSI大規模積體電路器件庫,TTL74/54,CMOS40/45,驅動器,29000,RAM,8000/80000,HD2500,9000/90000,3400/34000,AMD2500,+3.3V數字器件庫,俄羅斯器件庫,西門子器件庫,淘汰器件替代庫,LSI庫,PLD庫,EPROM庫,高壓接口庫,集成運放庫,電壓比較器庫,模擬開關庫,分立元件電晶體庫,穩壓器件庫,光耦器件庫,疑難器件庫等數萬種型號；
28.模擬器件型號識別庫：集成運放庫,電壓比較器庫,AD庫,DA庫,其它庫,自建庫。
