多通道光器件測試系統

多通道光測試系統是根據光通信設備研製、光器件生產和工程套用的需要而開發的一種多通道光信號測試系統，是集光開關、光源、光功率計和偏振控器為一體的綜合測試系統。

基本介紹

• 中文名：多通道光器件測試系統
• 外文名：More light device testing system
• 測試模式：單模
• 光功率準確度：±0.1 dB

概述

系統採用了精確的數據採集技術和軟體校準技術，結合控制軟體界面，可方便快捷的測試器件在三個波長下的插入損耗（IL）和偏振相關損耗（PDL）。

指標

參數	指標
測試項目	插入損耗(IL)、偏振相關損耗(PDL)
校準波長	1310/1490/1550nm
測試模式	單模
探測器類型	InGaAs（光敏面：φ2mm）
光功率測試範圍	－70～+3 dBm
光功率準確度	±0.1 dB
IL測試準確度	±0.1 dB
PDL不確定度	±0.04 dB
PDL重複性	±0.01 dB
解析度	0.01 dB
測試通道	8通道（可擴展）
光源波長	1310/1490/1550nm
雷射器類型	DFB-LD (帶隔離)
光輸出功率	≥0 dBm
穩定度	±0.02/15min ±0.05/8h
光接口	光功率計：FC/SC/ST/φ2.5mm/φ1.25mm
通信接口	RS232
電源	AC 220V/50Hz
工作溫度	0~+50℃
存儲溫度	－20~+70℃

功能特點

測試方便，人機界面友好；

系統與被測器件接好後，點擊開始測試按鈕，系統自動對多路器件掃描測試；

可以事先設定指標、門限閾值，測試完成後自動判斷該器件是否合格；

可根據用戶需求調用不同的指標判定標準；測試結果自動存儲到資料庫、生成Excel格式文本；

多通道光測試系統

實現無紙化測試，可提高器件的生產、測試效率；

根據不同的產品型號自動導出不同測試單模板；

當某通道不合格時，可選擇重新測試該通道；

支持多條件（如批次號、工單號、測試日期、產品型號等）查詢，批量導出，批量自動列印；

多台機（多個工位）上傳到一個伺服器，並通過特定的管理許可權（密碼）登入訪問伺服器。